[发明专利]一种投影机使用寿命的检测方法及其装置有效
申请号: | 201410267516.2 | 申请日: | 2014-06-16 |
公开(公告)号: | CN104019962A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 齐翔;金大伟;孙进康;王少敏;何国远;齐羽心;孔宁 | 申请(专利权)人: | 南京融教科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 投影机 使用寿命 检测 方法 及其 装置 | ||
1.一种投影仪灯泡亮度检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤1),将CCD/CMOS摄像头配置为视频模式,关闭所有光学补偿功能;
步骤2),通过投影仪将特征图像1投影到屏幕上后,所述摄像头获取特征图像1的图片信息,然后从所述特征图像1的图片信息中读取图像光强测量值xb;
步骤3),通过投影仪将特征图像2投影到屏幕上后,所述摄像头获取特征图像2的图片信息,然后从所述特征图像2的图片信息中读取图像光强测量值xa;
步骤4),根据获取的所述光强测量值xb和光强测量值xa,计算投影仪当前灯泡亮度值yc,计算式如下:
其中,预先将一已知光源光强的特征图像发生器作为校准信号投影到屏幕上,Rf为所述摄像头检测亮度达到度饱和值时通过照度仪测得的光强值,Ra为特征图像发生器投影特征图像2到屏幕上时通过摄像头得到的光强测量值,La为特征图像发生器投影特征图像2到屏幕上时通过照度仪测得的屏幕光强值,Rb为特征图像发生器投影特征图像1到屏幕上时通过摄像头得到的光强测量值,Lb为特征图像发生器投影特征图像1到屏幕上时通过照度仪测得的屏幕光强值,yl为该投影仪灯泡亮度值上一次测量值。
2.根据权利要求1所述的一种投影仪灯泡亮度检测方法,其特征在于:所述特征图像1为标准白屏图像,所述特征图像2为标准黑屏图像。
3.一种基于权利要求1所述投影仪灯泡亮度检测方法的投影仪使用寿命的检测方法,其特征在于:包括如下具体步骤:
步骤1),通过所述投影仪灯泡亮度检测方法得到当前投影仪灯泡亮度值yc;
步骤2),读取投影仪的灯泡使用时间tb、滤网使用时间ts以及投影仪温度T;
步骤3),投影仪温度判定:若所述投影仪温度T>50℃,则跳转到步骤(4);若所述投影仪温度T≤50℃,则跳转到步骤(5);
步骤4),滤网使用时间判定:若所述滤网使用时间ts>500h,则输出清洗滤网信号;若所述滤网使用时间ts≤500h,则跳转到步骤(5);
步骤5),投影仪灯泡亮度判定:若所述当前投影仪灯泡亮度值yc<150lux,则跳转到步骤6);若所述当前投影仪灯泡亮度值yc≥150lux,则输出投影仪正常使用信号;
步骤6),投影仪的灯泡使用时间判定:若所述灯泡使用时间tb<1000h,则输出检查投影幕布或清洗投影仪光路信号;若所述灯泡使用时间tb≥1500h,则输出更换灯泡信号。
4.一种基于权利要求3所述投影仪使用寿命的检测方法的检测装置,其特征在于:包括CCD/CMOS摄像头、FIFO芯片以及MCU微控单元;所述摄像头用于分别获取投影仪投影到屏幕上的特征图像1和特征图像2的图像信息,并传输至所述FIFO芯片;所述MCU微控单元连接FIFO芯片以及投影仪,用于读取所述FIFO芯片中存储的两幅特征图像信息、投影仪的灯泡使用时间tb、投影仪的滤网使用时间ts以及投影仪温度T后根据所述投影仪使用寿命的检测方法进行运算处理,输出投影仪状态信号。
5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于:还包括上位机以及用于连接所述上位机和MCU微控单元的数据串行接口和总线串行接口。
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