[发明专利]电子设备的数据处理性能的测试方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。该方法包括：接收开始测试指令并响应，记录当前的第一系统时间，执行对数据处理性能的测试；在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；依据两时间之差，确定数据处理性能；执行对数据处理性能的测试包括：通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从存储器中读取已写入的数据。可见，本方案实现了对电子设备数据处理性能的测试，提高了性能测试的全面性。

技术领域

本发明涉及电子设备性能测试领域，特别涉及一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置。

背景技术

随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。

而涌现在市场上的电子设备性能高低不一，很多用户在购买电子设备时或者购买之后有了解设备性能的意愿，因此，对电子设备的性能测试极为重要。其中，电子设备的数据处理性能在电子设备性能中占有举足轻重的地位，也是用户非常关心的性能。

其中，在执行某项任务时可能既用到CPU的计算能力，也使用到内存，还需要往存储器读写数据，这些都涉及到数据处理。但是，现有的电子设备的性能测试中，有的只是对内存做测试，有的是对存储器做测试，而有的是对CPU计算性能做测试，并未涉及到涵盖有这些项目的数据处理性能的测试，导致现有的电子设备的性能测试不够全面，最终无法较好地体现电子设备的综合性能。

发明内容

基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备的数据处理性能的测试方法及装置，以实现对电子设备的数据处理性能的测试，从而提高电子设备的性能测试的全面性。技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备的数据处理性能的测试方法，包括：

接收开始测试指令；

响应所述开始测试指令，记录当前的第一系统时间，并执行对电子设备的数据处理性能的测试；

在测试完毕后，记录当前的第二系统时间；

依据所述第二系统时间和所述第一系统时间之差，确定所述电子设备的数据处理性能；

其中，执行对电子设备的数据处理性能的测试，包括：

通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据。

可选的，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同，并且，且每一文件的本次待写入的数据块经过第一加工方式处理得到所述文件对应的下一次待写入的数据块。

可选的，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括：

通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；

在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。

可选的，通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括：

生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；

对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；