[发明专利]原子共振谱线分析仪在审

专利信息
申请号: 201410231690.1 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104020146A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 储冬红;彭飞;郭睦庚 申请(专利权)人: 成都中远千叶科技有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610100 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 原子 共振 分析
【说明书】:

技术领域

发明涉及谱线分析领域,尤其涉及原子共振谱线分析仪。

背景技术

原子共振谱线分析技术,主要通过气态自由原子吸收光源的特征辐射后,原子的外层电子跃迁到较高能级,然后又跃迁返回基态或较低能级,同时发射出与原激发波长相同或不同的发射。当激发光源停止照射之后,再发射过程立即停止。激发态原子跃迁回至高于基态的亚稳态时所发射。由于能级间隔小于激发线的能级间隔,波长大于激发线的波长,激发线和荧光线具有相同的高能级,而低能级不同。气态原子吸收共振线被激发后,再发射与原吸收线波长相同的荧光即是共振谱线。它的特点是激发线与荧光线的高低能级相同,原子受热激发处于亚稳态,再吸收辐射进一步激发,然后再发射相同波长的共振谱线。但是,现有的共振谱线分析技术对于样品中微量及痕量组分分析精确度和灵敏度都不高,因此,需要对现有技术加以改进,提高原子共振谱线分析技术的检测效率和应用范围。

发明内容

为了克服现有装置的不足之处,本发明采用的技术方案如下:

原子共振谱线分析仪,其特征在于,主要包括:

1--离子高频光束装置,2--光束谐波调节装置,3--光谱分离装置,4--样品导入装置,5--样品高温解离装置,6--光束协调装置,7--光束引导装置,8--光谱反射装置,9--波段控制装置,10--滤光装置,11--第一光电转换装置,12--第二光电转换装置,13--信号稳压装置,14--信号显示与记录装置;

其中,

离子高频光束装置(1)含有高频离子发射电极,该电极材料为氧化锫鐽合金,

光束谐波调节装置(2)含有光束谐波整流透镜,该透镜表面覆盖有两层厚度均为2.8um的八氯偏胺钼锿纳米复合透光膜,

光谱分离装置(3)含有十五棱光谱分离透镜,三聚焦反射镜,七缝衍射器,其中,十五棱光谱分离透镜表面镀有一层厚度为3.3um的六苯胺氧化锇铬纳米复合透光膜;上述三种器件的排列顺序为:七缝衍射器位于两个三聚焦反射镜之间,两个十五棱光谱分离透镜位于沿光束主轴传播方向的两端,而且,三聚焦反射镜和七缝衍射器都位于两个十五棱光谱分离透镜之间的位置。

离子高频光束装置(1)主要用于高频离子光束的产生,为原子共振谱线分析提供足够能量的光谱能量,光束谐波调节装置(2)主要用于光束波段的整流调谐,实现光谱波形控制,光谱分离装置(3)主要用于光束波谱范围调整与精确控制,消除线状光谱干扰;样品导入装置(4)主要用于检测分析样品的导入与初步预处理,样品高温解离装置(5)主要用于样品的高温裂解处理,实现样品原子能级激发以及辐射谱线生成,光束协调装置(6)主要用于消除外来干扰波段的影响,提高原子谱线分析效率,光束引导装置(7)主要用于波段光束传导路径的限制与调整,防止波谱溢出影响谱线连续成像,光谱反射装置(8)主要用于光束分光调节以及谱线聚集实现,有利于谱线成型质量提高和分析精度的改善,波段控制装置(9)主要用于低温谱线分析时波段能量的调节,提高谱线成像数目,滤光装置(10)主要用于消除谱线分析基体效益的影响,第一光电转换装置(11)和第二光电转换装置(12)主要用于谱线分析信号的光电转换以及消除电子辐射引起的杂光干扰,信号稳压装置(13)主要用于传导信号的压力校正,信号显示与记录装置(14)主要用于谱线分析结果的显示与有效记录。

本发明与现有技术相比具有的有益效果是:

(1)通过样品高温解离装置进行样品的高温裂解处理,实现样品原子能级激发以及辐射谱线生成;

(2)通过光束引导装置实现波段光束传导路径的限制与调整,防止波谱溢出影响谱线连续成像;

(3)通过光谱反射装置用于光束分光调节以及谱线聚集实现,有利于谱线成型质量提高和分析精度的改善。

附图说明

图1是原子共振谱线分析仪的示意图

如图1所示,本发明所述的原子共振谱线分析仪,主要包括:

1--离子高频光束装置,2--光束谐波调节装置,3--光谱分离装置,

4--样品导入装置,5--样品高温解离装置,6--光束协调装置,

7--光束引导装置,8--光谱反射装置,9--波段控制装置,

10--滤光装置,11--第一光电转换装置,12--第二光电转换装置,

13--信号稳压装置,14--信号显示与记录装置;

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。

具体实施方式

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