[发明专利]高精度测试模组

说明书

技术领域

本发明涉及一种高精度测试模组。

背景技术

对于传统的测试模组，探针的固定是通过探针与针板过盈配合而产生的摩擦力来实现的，因此对探针的强度有比较高的要求，所以无法做到更小的尺寸,也无法实现更高精度的测试(测试点间距小于0.8mm)。并且探针的对位精度都是放在针板上面，通过针板的精度和探针本身的强度来保证，无法保证小测试点(直径0.3mm-0.4mm)的精确对位。

当然探针的固定也可以采用其他方式，比如公开号为102062791A的中国专利，其公开了一种探针座，包括有一座体、一绝缘上盖、一绝缘下盖、及多支探针。其中,多支探针分别容设于座体的多个贯通孔内,且绝缘上盖、及绝缘下盖分别组设于座体的上、下表面。而多支探针分别透过其径向扩大的肩部,而卡止限位于绝缘上盖的上穿孔与绝缘下盖的下穿孔之间。对于上述探针，由于其设有肩部，必然探针的整体结构的尺寸会变大，同样无法实现更高精度的测试(测试点间距小于0.8mm)，而且对位精度是依靠贯通孔的加工精度和探针肩部本身的强度来保证的，在实际操作过程中发现，要想同时保证贯通孔的加工精度和探针肩部本身的强度的难度是非常大的，因此无法保证小测试点（0.3mm-0.4mm）大数量探针（超过200Pcs）的精确对位。

采用传统的探针固定方式，探针在安装过程中受力较大，对探针本身的强度和作业人员的技能要求很高。特别是针对小尺寸的探针(直径0.8mm以内)，在安装过程中极易损坏探针，并且探针是过盈配合在针板中的，损坏的探针很难取出来。即使能够取出损坏的探针，对针板上的探针安装孔的精度也会有比较大损害。

常规的探针对位精度的是通过针板针孔的加工精度和探针本身的强度来实现的。载板只是起到放置被测产品和保护探针的作用。在结构设计上来看，存在基准不一致的问题。同样也无法保证小测试点（直径0.3mm-0.4mm）大数量探针（一块针板探针数量超过200Pcs）的精确对位。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能避免对探针强度的依赖，降低对操作人员工作技能的要求及能很好地保证具有小测试点（测试点直径0.3mm-0.4mm）、小测试间距（测试点间距小于0.8mm）、大数量测试点（一块针板探针数量超过200Pcs）的电子产品主板的测试的稳定性的高精度测试模组。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括由上至下依次固定设置的上限位针板、探针头部限位板、第一增强板、中部针板、第二增强板、探针尾部限位板及下限位板，所述探针头部限位板、所述第一增强板、所述中部针板、所述第二增强板及所述探针尾部限位板上均设有多个与探针主体间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板上设有多个与探针头间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板上设有多个与探针尾间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。

所述第一增强板和所述第二增强板均设为中空，形成空腔，工作时，探针穿过中空部分，所述第一增强板和所述第二增强板的外围被所述中部针板和所述探针头部限位板或所述探针尾部限位板紧压。

所述通孔Ⅱ的下部同轴设有与所述探针主体间隙配合的所述通孔Ⅰ。

所述高精度测试模组还包括设置在所述上限位针板上方的载板，所述载板设置有多个与探针相适配的导针孔。

所述导针孔由上导向孔和下导向孔组成，所述上导向孔的孔径小于所述下导向孔的孔径，且所述上导向孔与所述下导向孔之间通过导向斜面过渡。

所述导针孔为锥形孔，所述导针孔的孔径由上至下逐渐变大。

所述探针头部限位板上设置有若干个导柱，所述载板上设有与所述导柱相适配的导柱孔，所述载板与所述导柱滑动配合。