[发明专利]分析系统和分析样品的方法

说明书

本申请是申请日为2008年5月30日、申请号为200880101096.3、发明名称为“不连续的大气压接口”的专利申请的分案申请。

相关申请

本申请要求分别于2007年6月1日和2007年8月3日向美国专利商标局提交的美国临时专利申请No.60/941，310和No.60/953，822的优先权，在此通过引用将上述两个美国临时专利申请的全部内容并入本文。

政府支持

此处描述的本发明的至少一部分受到美国国土安全部的支持(批准号:HSHQPA-05-9-0033)。政府对本发明具有一定权利。

技术领域

本发明整体涉及对向质谱仪导入离子的改进。

背景技术

质谱仪的大气压接口(API)用于将离子从常压(大气压)区转移到其它的低压区。其允许为质谱仪开发并使用处于常压的多种电离源，包括:电喷雾电离(ESI)(Fenn，J.B.；Mann，M.；Meng，C.K.；Wong，S.F.；Whitehouse，C.M.Science1989，246，64-71；Yamashita，M.；Fenn，J.B.J.Phys.Chem.1984，88，4451-4459)，大气压电离(APCI)(Carroll，D.I.；Dzidic，I.；Stillwell，R.N.；Haegele，K.D.；Horning，E.C.Anal.Chem.1975，47，2369-2373)，和大气压基质辅助激光解吸电离(AP-MALDI)，(Laiko，V.V.；Baldwin，M.A.；Burlingame，A.L.Anal.Chem.2000，72，652-657；Tanaka，K.；Waki，H.；Ido，Y.；Akita，S.；Yoshida，Y.；Yoshida，T.；Matsuo，T.Rapid Commun.Mass Spectrom.1988，2，151-153)等等。API不仅允许将质谱仪与多种样品分离法和样品预处理法(例如液相色谱法)结合，还允许使用多种理想条件进行敞开式的离子准备和处理，例如，在将离子送入真空进行质量分析之前，进行离子热采(Chen，H.；Ouyang，Z.；Cooks，R.G.Angewandte Chemie，International Edition2006，45，3656-3660；Takats，Z.；Cooks，R.G.Chemical Communications (Cambridge，United Kingdom)2004，444-445)、离子-离子反应(Loo，R.R.O.；Udseth，H.R.；Smith，R.D.Journal of the American Society for Mass Spectrometry1992，3，695-705)、或者离子碎裂(Chen，H.；Eberlin，L.S.；Cooks，R.G.Journal of the American Chemical Society2007，129，5880-5886)。没有API，也无法利用最近开发的一类新型的直接敞开式电离/采样法，包括：解吸电喷雾电离(DESI)(Takats，Z.；Wiseman，J.M.；Gologan，B.；Cooks，R.G.Science2004，306，471-473)、实时直接分析(DART)(Cody，R.B.；Laramee，J.A.；Durst，H.D.Anal.Chem.2005，77，2297-2302)、大气压介质阻挡放电电离(DBDI)、以及电喷雾辅助激光解吸/电离(ELDI)(Shiea，J.；Huang，M.Z.；Hsu，H.J.；Lee，C.Y.；Yuan，C.H.；Beech，I.；Sunner，J.Rapid Commun.Mass Spectrom.2005，19，3701-3704)。