[发明专利]分析系统和分析样品的方法有效
申请号: | 201410195435.6 | 申请日: | 2008-05-30 |
公开(公告)号: | CN104051219B | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | Z·欧阳;L·高;罗伯特·格雷厄姆·库克斯 | 申请(专利权)人: | 普度研究基金会 |
主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04;H01J49/24;H01J49/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 顾红霞,彭会 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 系统 样品 方法 | ||
1.一种分析系统,所述系统包括:
电离源;
与所述电离源可操作地关联的不连续接口;和
与所述不连续接口可操作地关联的质谱仪的质量分析器,所述系统经构造以使得所述接口间歇地打开一段时间,引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力,并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时间歇地关闭。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述不连续接口包括阀门。
3.根据权利要求2所述的系统,其进一步包括与所述系统操作连接的计算机,其中所述计算机包括构造为用于执行计算机可读程序的处理器,所述程序控制所述阀门的位置。
4.根据权利要求2所述的系统,其中所述阀门以与所述质量分析器的操作同步的方式进行操作,以控制离子的进入。
5.根据权利要求1所述的系统,其中所述电离源通过选自以下的技术进行操作:电喷雾电离、大气压基质辅助激光解吸电离、大气压化学电离、大气压介质阻挡放电电离和大气压低温等离子体解吸电离。
6.根据权利要求5所述的系统,其中所述电喷雾电离的技术选自纳米电喷雾电离、解吸电喷雾电离、激光辅助电喷雾电离和电喷雾辅助激光解吸电离。
7.根据权利要求1所述的系统,其中所述质量分析器是小型质谱仪的一部分。
8.一种分析样品的方法,所述方法包括:
以如下方式不连续地接收样品离子到质谱仪的质量分析器,在所述方式中所述质量分析器间歇地打开一段时间,引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力,并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时间歇地关闭;和在所述质量分析器处于可以进行质量分析或离子操纵的压力时对所述样品离子进行质量分析。
9.根据权利要求8所述的方法,其中不连续地接收包括:
打开连接到所述不连续接口的阀门,其中打开所述阀门允许离子穿过所述不连续接口到达所述质谱仪的所述质量分析器;和
关闭所述阀门。
10.根据权利要求9所述的方法,其中计算机将所述阀门的打开和关闭与所述离子的质量分析的顺序同步。
11.根据权利要求8所述的方法,其中所述质量分析器是小型质谱仪的一部分。
12.一种分析系统,所述系统包括:
介质阻挡放电电离源;
与所述介质阻挡放电电离源可操作地关联的不连续接口;和
与所述不连续接口可操作地关联的质谱仪的质量分析器,所述系统经构造以使得所述质量分析器间歇地打开一段时间,引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力,并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时间歇地关闭。
13.根据权利要求12所述的系统,其中所述不连续接口包括阀门。
14.根据权利要求13所述的系统,其进一步包括与所述系统操作连接的计算机,其中所述计算机包括构造为用于执行计算机可读程序的处理器,所述程序控制所述阀门的位置。
15.根据权利要求13所述的系统,其中所述阀门以与所述质量分析器的操作同步的方式进行操作,以控制离子的进入。
16.根据权利要求12所述的系统,其中所述质量分析器是小型质谱仪的一部分。
17.一种分析样品的方法,所述方法包括:
利用介质阻挡放电电离源产生样品离子;
以如下方式不连续地打开接收所述样品离子到质谱仪的质量分析器,在所述方式中所述质量分析器间歇地一段时间,引致所述质量分析器内的压力增加到高于可以进行质量分析或离子操纵的压力,并且在所述质量分析器被抽空到可以进行质量分析或离子操纵的压力时间歇地关闭;和
在所述质量分析器处于可以进行质量分析或离子操纵的压力时对所述样品离子进行质量分析。
18.根据权利要求17所述的方法,其中不连续地接收包括:
打开连接到所述不连续接口的阀门,其中打开所述阀门允许离子穿过所述不连续接口到达所述质谱仪的所述质量分析器;和
关闭所述阀门。
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