[发明专利]检眼镜中的改进以及与检眼镜相关的改进有效
申请号: | 201410185233.3 | 申请日: | 2014-05-04 |
公开(公告)号: | CN104127167B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | G·穆约;D·斯旺 | 申请(专利权)人: | 光电子有限公司 |
主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12 |
代理公司: | 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙)33239 | 代理人: | 郑洪成 |
地址: | 英国丹*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 眼镜 中的 改进 以及 相关 | ||
1.一种用于扫描眼睛的视网膜的扫描激光检眼镜,包括:
发射光束的光源,
扫描中继元件,
其中光源和扫描中继元件提供从眼睛的瞳孔点处的表面点源传递至眼睛的视网膜的光束的二维扫描,以及
静态偏差校正元件,静态偏差校正元件的形状被限定为提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正,静态偏差校正元件在检眼镜中的位置被选择为提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正,该位置保持了光束的从眼睛的瞳孔点处的表面点源至眼睛的视网膜的传递,
其中静态偏差校正元件的位置与所述扫描中继元件的扫描补偿元件分开,而且介于扫描中继元件的扫描补偿元件和第一扫描元件之间。
2.根据权利要求1所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件的形状被限定为具有沿所述静态偏差校正元件的主轴和次轴空间变化的深度。
3.根据权利要求2所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件的深度由至少一个预定数学函数限定。
4.根据权利要求3所述的扫描激光检眼镜,其中预定数学函数包括至少一个多项式函数。
5.根据权利要求4所述的扫描激光检眼镜,其中预定数学函数包括:
其中N是级中的多项式系数的数量,ai是多项式项pi的系数第i个,多项式是x和y中的幂级数,而且第一项是x,第二项是y,第三项是x*x,第四项是x*y,第五项是y*y。
6.根据任一前述权利要求所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件在检眼镜中的位置被选择成使得静态偏差校正元件的主轴实质上平行于扫描中继元件的扫描补偿元件的主轴。
7.根据权利要求1所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件附接至或者代替了布置在第一扫描元件上的窗口。
8.根据权利要求1至5之一所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件修改光束的相位以提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正。
9.根据权利要求8所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件将所述静态偏差校正元件的一个或多个相位特征强加在光束的相位上以提供偏差校正。
10.根据权利要求9所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件利用作为所述静态偏差校正元件的沿所述静态偏差校正元件的主轴和次轴空间变化的深度的结果的一个或多个相位特征,以提供偏差校正。
11.根据权利要求8所述的扫描激光检眼镜,其中静态偏差校正元件包括透射式相位掩模,其通过光束的折射修改光束的相位。
12.根据权利要求1至5之一所述的扫描激光检眼镜,其中所述静态偏差校正元件的形状被限定为提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正以及对眼睛的偏差的校正。
13.一种用于根据权利要求1至12中任意一项所述的扫描激光检眼镜的静态偏差校正元件,所述静态偏差校正元件的形状被限定为提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正,静态偏差校正元件在检眼镜中的位置被选择为提供对扫描中继元件中的至少一些的偏差的校正,该位置保持了光束的从眼睛的瞳孔点处的表面点源至眼睛的视网膜的传递。
14.一种限定根据权利要求13所述的静态偏差校正元件的形状的方法,所述方法包括:
(i)构建对包括检眼镜的系统的光学描述,
(ii)使得多个射线通过系统,
(iii)确定射线通过系统的路径,
(iv)利用射线的路径来将检眼镜的扫描中继元件中的至少一些的偏差测量为角度的函数,以及
(v)利用偏差测量来确定限定了所述静态偏差校正元件的形状的数学函数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于光电子有限公司,未经光电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410185233.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。