[发明专利]用于检验物理性质传感器的装置

权利要求书

1.一种用于检验物理性质传感器的装置，该装置包括：

测量单元，该测量单元用于测量至少一个参考传感器以及所检验的传感器；以及

显示单元，该显示单元与所述测量单元电通信，

其中所述测量单元包括：

基底，该基底包括第一固定部分和第二固定部分，其中该第一固定部分安装了其上安装有至少一个参考传感器的参考基底，该第二固定部分固定所述所检验的传感器以与所述参考传感器相邻；以及

上盖，该上盖包括通孔，该通孔将所述参考传感器和所述所检验的传感器暴露至周围空气，并且该通孔被形成为覆盖至少一个参考传感器和所述所检验的传感器的平板形状。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述通孔被形成在上盖中，该上盖面向固定在所述基底上的所述至少一个参考传感器和所检验的传感器。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述通孔具有安装在其上的鼓风机。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述第二固定部分具有印刷电路板连接件，与所检验的印刷电路板的端子接触，该印刷电路板具有安装在其上的所检验的传感器。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述上盖还包括在面向所述PCB连接件的下表面上的加压元件。

6.根据权利要求5所述的装置，其中所述加压元件包括弹性片。

7.根据权利要求1所述的装置，还包括控制单元，用于操作至少一个参考传感器的测量的数据和所检验的传感器的测量的数据，以及控制所述测量单元和所述显示单元。

8.根据权利要求1所述的装置，其中所述上盖链接耦合至所述基底。

9.根据权利要求1所述的装置，其中所述基底还包括通过电磁原理操作的锁扣。

10.根据权利要求1所述的装置，其中所述显示单元与所述测量单元分离。

11.根据权利要求1所述的装置，其中所述显示单元包括显示窗口和光条。

12.根据权利要求1所述的装置，其中至少一个参考传感器与所检验的传感器被放置在相同的高度。

13.根据权利要求1所述的装置，其中所述所检验的传感器和至少一个参考传感器彼此等距离隔离。

14.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一固定部分包括散热板。

15.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一固定部分允许所述参考基底可连接并可分离地在其上安装有至少一个参考传感器。

16.根据权利要求1所述的装置，还包括在所述基底或所述上盖中的鼓风机。