[发明专利]相位校准方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种相位校准方法及装置。

背景技术

20世纪90年代，随着射频、微波理论及技术的进步，直接测量含有非线性元件、器件和系统的大信号网络分析技术应运而生，相应的新一代网络分析测量设备也逐渐出现。是完成大信号网络分析的典型代表，他的出现使器件(如功率放大器)的非线性测量与表征变得更加准确。

为了提高网络分析仪的测量精度，非线性矢量网络分析仪(NVNA)、大信号网络分析仪(LSNA)等在进行测量前需要进行相位校准，如下列文献中公开的技术方案：

(1)“A new instrument architecture for millimeter-wave time-domain signal analysis,”63rd ARFTG Conference,47至51页,2004.

(2)“Mixer-Based,Vector-Corrected,Vector Signal/Network Analyzer Offering300kHz-20GHz Bandwidth and Traceable Phase Response,”2005IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest,1497至1500页,Jun2005.

(3)“A Large-Signal Network Analyzer:Why Is It Needed”,IEEE Microwave Magazine,46页至61页，Dec2006.

(4)“Covariance-matrix-based uncertainty analysis for NVNA measurements,”IEEE Trans.Instrum.Meas.,vol.61,no.1,93页至102页,Jan.2012.

现有技术中的相位校准方法是通过利用网络分析仪，测量一个相位谱已知的标准信号的相位谱，将测量出的相位谱与实际相位谱进行对比，求解出网络分析仪的相位测量误差系数，以根据测量误差系数对后续正式测量过程中的实际测量结果进行修正。

然而，现有技术中的相位校准方法至少存在如下技术问题：

现有的相位校准方法要求相位谱已知的标准信号必须同时覆盖所有被测频点，如果被测频点不能被一个标准信号全部覆盖，则无法进行有效的相位校准，在被测频点较多的情况下，增加了标准信号的产生难度，难以获取满足要求的标准信号，导致无法进行相位校准。

发明内容

本发明提供一种相位校准方法及装置，解决射频信号相位谱测量过程中因单个标准信号无法同时覆盖所有被测频率点而导致无法进行相位校准的技术问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种相位校准方法，包括：

将被测的N个频率点分为M组被测频率点，其中，不同组被测频率点存在重叠，N和M为正整数，M≥2；

获取M个标准信号，分别对每组被测频率点进行相位校准，以获取M组相位误差系数，其中，第i个标准信号的频率点完全覆盖第i组被测频率点，i为整数，1≤i≤M；

对所述M组相位误差系数进行修正并合并，以生成N个频率点的相位误差系数。

一种相位校准装置，其特征在于，所述装置包括：

分组模块，用于将被测的N个频率点分为M组被测频率点，其中，不同组被测频率点存在重叠，N和M为正整数，M≥2；

校准模块，用于获取M个标准信号，分别对所述分组模块分组的每组被测频率点进行相位校准，以获取M组相位误差系数，其中，第i个标准信号的频率点完全覆盖第i组被测频率点，i为整数，1≤i≤M；

合并模块，用于对所述校准模块获取的所述M组相位误差系数进行修正并合并，以生成N个频率点的相位误差系数。

通过本发明提供的一种相位校准方法及装置，通过将被测的N个频率点分为M组被测频率点，获取M个标准信号，分别对每组被测频率点进行相位校准，以获取M组相位误差系数，对所述M组相位误差系数进行修正并合并，以生成N个频率点的相位误差系数。降低了标准信号中对被测频点数量的限制，实现了对任意宽频段相位的校准。

附图说明