[发明专利]一种离子注入倾角的日常监控方法有效
申请号: | 201410164080.4 | 申请日: | 2014-04-22 |
公开(公告)号: | CN104465435B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 邱裕明 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01J37/317 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 吴俊 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 离子 注入 倾角 日常 监控 方法 | ||
1.一种离子注入倾角的日常监控方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:获得一关于方块电阻与离子注入倾角之间关系的原始数据;
步骤S2:选取一枚监控片,采用转角设置为0度,倾角设置为0度的离子注入,注入后安排退火处理,测量方块电阻的阻值,如此进行持续的周次监控,得到方块电阻统计值;
步骤S3:将监控得到的电阻统计值与步骤S1中所述原始数据中最小的方块电阻阻值进行对比,若比对结果在系统允许差值范围内,则进行正常生产,若比对结果不在系统允许差值范围内,则进行步骤S4;
步骤S4:使用五点法对注入倾角进行复核。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S4中,使用五点法进行对注入倾角进行复核的具体步骤包括:
步骤S41、提供五片监控片;
步骤S42、将所述五片监控片分别设置成倾角为1度、0.5度、0度、0.5度和1度,并对该五片监控片进行离子注入工艺和退火工艺;
步骤S43、分别测得所述五片监控片的方块电阻,并根据五片监控片的倾角拟合出方块电阻与倾角之间的二次曲线;
步骤S44、计算得到所述二次曲线的对称轴,并获得所述对称轴所对应的倾角,若该倾角位于区间[-0.2,0.2]内时,则所述倾角符合离子注入工艺要求,若该倾角位于区间[-0.2,0.2]外时,则所述倾角不符合离子注入工艺要求。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S1中,通过五点法获得所述原始数据。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:步骤S2和步骤S42中的离子注入均在同一离子注入机台中进行。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述退火处理的温度为900℃~1100℃。
6.根据权利要求5所述的方法,所述退火处理的温度为1000℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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