[发明专利]一种离子注入倾角的日常监控方法有效

专利信息
申请号: 201410164080.4 申请日: 2014-04-22
公开(公告)号: CN104465435B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 邱裕明 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01J37/317
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 吴俊
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 离子 注入 倾角 日常 监控 方法
【权利要求书】:

1.一种离子注入倾角的日常监控方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1:获得一关于方块电阻与离子注入倾角之间关系的原始数据;

步骤S2:选取一枚监控片,采用转角设置为0度,倾角设置为0度的离子注入,注入后安排退火处理,测量方块电阻的阻值,如此进行持续的周次监控,得到方块电阻统计值;

步骤S3:将监控得到的电阻统计值与步骤S1中所述原始数据中最小的方块电阻阻值进行对比,若比对结果在系统允许差值范围内,则进行正常生产,若比对结果不在系统允许差值范围内,则进行步骤S4;

步骤S4:使用五点法对注入倾角进行复核。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S4中,使用五点法进行对注入倾角进行复核的具体步骤包括:

步骤S41、提供五片监控片;

步骤S42、将所述五片监控片分别设置成倾角为1度、0.5度、0度、0.5度和1度,并对该五片监控片进行离子注入工艺和退火工艺;

步骤S43、分别测得所述五片监控片的方块电阻,并根据五片监控片的倾角拟合出方块电阻与倾角之间的二次曲线;

步骤S44、计算得到所述二次曲线的对称轴,并获得所述对称轴所对应的倾角,若该倾角位于区间[-0.2,0.2]内时,则所述倾角符合离子注入工艺要求,若该倾角位于区间[-0.2,0.2]外时,则所述倾角不符合离子注入工艺要求。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S1中,通过五点法获得所述原始数据。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:步骤S2和步骤S42中的离子注入均在同一离子注入机台中进行。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述退火处理的温度为900℃~1100℃。

6.根据权利要求5所述的方法,所述退火处理的温度为1000℃。

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