[发明专利]一种多功能密封圈检漏装置

说明书

技术领域

本发明涉及密封圈检测技术领域，特别是涉及一种多功能密封圈检漏装置。

背景技术

目前在阀门行业，O形圈、泛塞圈等密封圈密封性能的检测多是直接利用阀门来进行检测，而直接利用阀门来检测会存在很多缺陷，如成本高，泄漏点多，检测数据不够精确，装配过程不易控制等缺点,因此需要一种能够专业检测密封圈密封性能的检测设备。

如中国专利文献CN102435402A公开了一种密封圈漏率检测装置，其包括法兰盘和法兰盖密封联接的法兰，在法兰盘和法兰盖之间设置的内道密封槽和外道密封槽，内道密封槽内放置待检测密封圈，外道密封槽内放置标准密封圈，其中法兰盘和法兰盖的接触处设置有环形检漏槽和气体腔；环形检漏槽设置在外道密封槽和内道密封槽之间，并与外部的检漏管无泄漏连通；气体腔设置在法兰的中心位置并与法兰外部设置的筒体无泄漏连通。该检测装置的待检测密封圈被设置在法兰盘和法兰盖的端面配合处，也即内道密封槽内，当在高温下检测密封圈的密封性能时，用于连接法兰盘和法兰盖的螺栓会受热膨胀，并沿着其轴向伸长，这就导致法兰盘和法兰盖之间的间隙增大，对待检测密封圈的预压力变小，进而导致待检测密封圈密封性能降低，漏率检测结果误差过大，不能真实反映出密封圈在高温下的密封性能，且该检测装置每次只能检测一个密封圈，检测效率较低，功能单一。

发明内容

为此，本发明首要解决的技术问题是现有密封圈检漏装置在高温下由于受热膨胀致使待检测密封圈的密封性能降低，进而增大检测误差的问题；本发明要解决的第二个技术问题是现有检测装置的检测效率较低，功能单一的问题。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种多功能密封圈检漏装置，其包括相互密封配合的法兰盖和法兰盘，所述法兰盘与所述法兰盖的配合端面之间设有圆柱形的型腔，所述型腔内设置有与所述型腔匹配的芯轴，所述芯轴与所述型腔的轴向配合面上设置有至少一个用于放置待检测密封圈的第一密封槽；所述法兰盖上成型有与所述型腔连通的第一进气通道或第一漏气检测通道，所述法兰盘上对应成型有与所述型腔连通的第一漏气检测通道或第一进气通道。

所述芯轴的其中一侧径向面上成型有至少一个芯轴凸起或芯轴凹槽，与所述芯轴的其中一侧所述径向面配合的所述法兰盖或所述法兰盘的径向面上对应成型有至少一个法兰凹槽或法兰凸起；所述芯轴凸起与所述法兰凹槽，或所述芯轴凹槽与所述法兰凸起的轴向配合面上设置有至少一个用于放置待检测密封圈的第二密封槽；所述法兰盖或所述法兰盘上分别成型有第二进气通道及第二漏气检测通道，其中所述第二进气通道及所述第二漏气检测通道分别连通所述第二密封槽的两侧。

所述型腔为成形于所述法兰盘上的凹槽，所述芯轴与所述凹槽的内壁配合处成型所述第一密封槽，所述芯轴的与所述法兰盘的径向配合面上成型所述芯轴凹槽，所述法兰盘对应成型所述法兰凸起，所述芯轴凹槽与所述法兰凸起的配合面上成型所述第二密封槽；所述第一进气通道成型于所述法兰盖上，且连通所述型腔，所述第二进气通道成形于所述法兰盘上且连通所述芯轴凹槽与所述法兰凸起的径向配合面，所述第一漏气检测通道及所述第二漏气检测通道成形于所述法兰盘上且连通所述芯轴与所述法兰盘的径向配合面。

所述第一漏气检测通道及所述第二漏气检测通道共用一个通道。

所述待检测密封圈包括O型密封圈及泛塞圈；所述第一密封槽包括设置于所述芯轴中间位置处的O型密封圈槽，以及设置于所述芯轴靠近所述法兰盖的一端边沿处的环形缺口，所述环形缺口用于放置第一待检测泛塞圈；所述第二密封槽包括设置在所述法兰凸起的中间位置处的O型密封圈槽，以及设置于所述法兰凸起的边沿处的环形缺口，所述环形缺口用于放置第二待检测泛塞圈。

所述法兰盖的与所述法兰盘配合的端面上设置有环形凸起，所述环形凸起的内径小于所述型腔的直径，所述环形凸起的外径大于所述型腔的直径；所述法兰盖与所述法兰盘通过套设于所述环形凸起上的密封垫片实现密封配合。

所述法兰盘与所述环形凸起的配合处设置有第一台阶，所述第一台阶上设置有防尘密封圈。

所述芯轴上的所述环形缺口内设置有挡圈，所述挡圈的一端抵在所述环形凸起上，其另一端抵在所述第一待检测泛塞圈的开口上。

所述法兰盘的侧壁上设有用于移动或固定所述法兰盘的吊环。

本发明的有益效果：