[发明专利]应用方圈插片装置检测硅钢片的方法

说明书

技术领域

本发明涉及硅钢片检测领域，特别是涉及方圈插片装置、应用方圈插片装置检测硅钢片的方法。

背景技术

目前针对电工钢磁性的测量，钢板表面质量等对性能测试会产生一定的影响，目前电工钢磁性能的测量方法，国际和国内的标准都是用爱泼斯坦方圈测试。被测试样按照厚度不同需要选取不同的片数，而以往的测试过程需要人工操作，被测试样需要一片一片地由操作人员从四个方向交叉穿进爱泼斯坦方圈中进行磁特性的测量，人工操作存在放置位置不精确的问题，而且耗费的人力较大。

发明内容

本发明提供了一种方圈插片装置、应用方圈插片装置检测硅钢片的方法，用于改善人工操作不精确的弊端。

相应地，本发明还提供了一种应用方圈插片装置检测硅钢片的方法，其中，所述方圈插片装置包括：包括机架，固定在所述机架上的用于传送所述硅钢片的传送装置，与所述传送装置衔接的用于检测所述硅钢片的插片检测装置、安装在所述机架上的用于搬运所述硅钢片的机械装置，以及控制所述传送装置、所述插片检测装置以及所述机械装置运行的控制装置；

所述传送装置包括用于传送待检测的所述硅钢片的上料装置，以及用于传送检测后的所述硅钢片的出料装置；

所述插片检测装置包括：用于放置通过所述机械装置从所述上料装置上搬运的所述硅钢片的放置架、用于从所述放置架上搬运所述硅钢片的抓取气缸、用于承接通过所述抓取气缸搬运的插片导轨、用于推动所述插片导轨上的所述硅钢片的推片气缸、用于检测所述硅钢片的线圈、用于将所述线圈推送至检测位置的升降气缸，用于固定到达检测位置的所述线圈的支架，以及用于放置检测完毕的所述线圈的抽片托盘；

将所述硅钢片放置在所述上料装置上；

所述机械臂由控制装置控制，将从所述上料装置上传递过来的所述硅钢片搬运到所述放置架上；

所述抓取气缸由所述控制装置控制，将所述放置架上的所述硅钢片搬运到所述插片导轨上；

所述推片气缸由所述控制装置控制，将所述硅钢片推送至所述线圈内；

所述升降气缸由所述控制装置控制，将所述线圈推送至检测位置；

所述机械装置由所述控制装置控制，将检测后的所述线圈搬运至所述抽片托盘；

所述机械装置由所述控制装置控制，将所述线圈内的所述硅钢片搬运至所述出料装置上；

所述出料装置由所述控制装置控制，将检测后的所述硅钢片传送出。

与现有技术相比，本发明实施例的优点在于：

本发明的有益效果包括：通过方圈插片装置可以使硅钢片通过传送装置准确地传送至方圈内部，不仅节省了人力，也提高了测试精度和方圈装载硅钢片的速度，避免了由于人工操作造成的误差，提高了单位时间的测试效率。

附图说明

图1为本发明实施方式的立体结构示意图；

图2为本发明实施方式的内部结构示意图；

其中：机架1、传送装置2、插片检测装置3、放置架31、抓取气缸32、插片导轨33、推片气缸34、线圈35、升降气缸36、抽片托盘37、机械装置4。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本发明的具体实施方式进行说明。

本发明提供了一种方圈插片装置(即用于检测硅钢片的方圈插片装置)，包括机架1，固定在机架1上的用于传送硅钢片的传送装置2，与传送装置2衔接的用于检测硅钢片的插片检测装置3、安装在机架1上的用于搬运硅钢片的机械装置4，以及控制传送装置2、插片检测装置3以及机械装置4运行的控制装置。

在以往对硅钢片磁性的测量工作中，硅钢片需要操作人员通过人力将硅钢片一片一片地放入到线圈35中，在放置过程中很难保证硅钢片叠摞的整齐度，从而会影响到测量结果，造成的误差会直接影响到后续生产产品的精准度。另外，由于操作员在叠放时力度大小不容易控制，还会对被测试的硅钢片造成潜在的碰撞损坏，使待测硅钢片的寿命缩短。本发明提出了方圈插片装置，首先通过传送装置2将硅钢片传送至插片检测装置3内，通过由程序控制的机械装置4搬运硅钢片，使其在插片检测装置3中精准地进行测量，不但节省了人力，由于程序控制的精准性，使得硅钢片在叠摞过程中准确放置，减小了检测误差，同时也最大限度地避免了硅钢片之间不必要的碰撞，延长了硅钢片的使用寿命。