[发明专利]用于为换能器头确定有效飞行高度设置的方法和设备有效
申请号: | 201410097378.8 | 申请日: | 2014-03-17 |
公开(公告)号: | CN104050987B | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | A·道格拉;J·D·珊萨姆;S·塔德帕里 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | G11B5/60 | 分类号: | G11B5/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 何焜 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介质 邻近 检测 | ||
相关申请的交叉引用
本申请是非临时申请,其要求2013年3月15日提交的题为“Head to Media Proximity Detection”的美国临时专利申请No.61/801,189的优先权,其整体公开及指教在此通过引用并入本文。
技术领域
本发明涉及介质邻近检测的头,特别地涉及用于为换能器头确定有效飞行高度设置的方法和设备。
背景技术
盘驱动系统使用从存储介质写入或读取数据的包括写传感器、读传感器等的换能器头。该换能器头可被实施在将换能器头移动至紧密接近介质表面的致动器组件上。换能器头和存储介质表面之间的距离被称为飞行高度或悬浮高度。如果飞行高度太大,会得到质量差的数据读取和写入,另一方面,如果飞行高度太小,会导致换能器头撞击存储介质并遭受损伤的可能性。因此,换能器头的飞行高度被校准以确定信号质量和换能器头受物理损伤可能性之间的折中。
发明内容
在一种实施方式中,提供了一种方法和设备,用于根据在少于盘的单转期间从邻近传感器采集的样本为换能器头确定有效飞行高度设置。
在另一种实施方式中,方法和系统使用从采集的样本产生的自适应离散小波变换参数来确定换能器头的有效飞行高度设置。
该发明内容被提供来介绍对下文将在具体实施例中进一步描述的概念的简化形式的选择。该发明内容不是用于指示所请求保护的主体的关键特征和必要特征,也不是用于限制所请求保护的主体的范围。根据下面更具体描写的各种实施方式和附图中图示的及所附权利要求中限定的实施方式的具体说明,所请求保护的主体的其它特征、细节、使用和优势将变得明显。
附图说明
参考附图将认识到本发明的进一步的特征和优势,这将在说明书的剩余部分进行描述。
图1图示出一种实施方式中的示出了可调关闭点的示例盘驱动系统。
图2图示出在一种实施方式中用于执行自适应离散小波变换的电路的框图。
图3图示出一种实施方式中的示出确定有效飞行高度设置的方法的流程图。
图4A和4B图示出另一实施方式中的示出确定有效飞行高度设置的方法的另一流程图。
图5图示出另一实施方式中的使用ADWT参数来确定对介质接触的头的示例。
图6图示出另一实施方式中的使用ADWT参数来确定对介质接触的头的替换示例。
具体实施方式
在盘驱动系统的环境下公开了本技术的实施方式。然而,应该理解的是,本发明并不限于盘驱动系统,而且可以容易地应用至其它数据存储装置以及其它摩擦及技术系统。盘驱动系统使用从存储介质写入或读取数据的包括写传感器、读传感器等的换能器头。该换能器头可被实施在将换能器头移动至紧密接近介质表面的致动器组件上。换能器头和存储介质表面之间的距离被称为飞行高度或悬浮高度。如果飞行高度太大,会得到质量差的数据读取和写入,另一方面,如果飞行高度太小,会导致换能器头撞击存储介质并遭受损伤的可能性。因此,换能器头的飞行高度被校准以确定信号质量和换能器头受物理损伤可能性之间的折中。在盘驱动的一种实施方式中,通过改变换能器头的关闭点相对于介质表面的接近度的信号来有效控制飞行高度。例如,该控制在将使换能器头的关闭点更靠近盘表面地突出的换能器头中嵌入电阻加热器。
可利用盘的多转(例如,16-25转)来校准盘驱动系统。这会导致对换能器(例如,换能器头)和/或盘的损伤。该损伤可能由于换能器头和盘在该校准期间变得彼此接触而出现。在此处描述的具体实施方式中,换能器头和盘在校准期间彼此接触的时间量可显著减少。可通过将换能器头越来越近地推向盘并从邻近传感器得到数据样本来实现该实施方式。
邻近传感器的一个示例是布置在换能器头附近的装置,其在接触盘表面是呈现出电阻变化。电阻变化可能是由于当邻近传感器在盘表面摩擦时邻近传感器温度的升高而造成的。因此,邻近传感器产生基于传感器对盘表面的接近度和邻近传感器和盘头的接触次数的具有电阻变化的形式的数据样本,可以以流经邻近传感器的电流、邻近传感器上的电压、或邻近传感器的其它参数的变化的形式测量该电阻变化。数据样本可以具有表示该电阻变化等的模拟信号的形式。在一种实施方式中,该模拟信号被转换成大量数字数据值并被发送至处理器,例如由盘控制器使用的处理器,以便进一步处理。例如,处理器可分析数字数据样本内的模式等。
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