[发明专利]一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及鼠标技术领域，具体地，涉及一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法。

背景技术

无线鼠标二合一芯片是集RF与MCU于一体的集成芯片，可灵活的搭配一颗光学Sensor就可以完成无线鼠标的发射端。然而，由于封装工艺或者内部RF的原因，会导致其RF数据传输功能不良。所以在产品批量出货前，对RF数据传输的测试非常关键。

但是，由于射频产品在批量测试时，容易出现相互之间的干扰，大大影响批量测试的效率与准确性。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差等缺陷。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，以实现抗干扰能力强、测试效率高和准确性好的优点。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，主要包括：

a、给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；

b、读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试。

进一步地，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：

芯片上电后，读取传器ID，当该传感器ID不是预设的自定义测试模式ID时，二合一芯片进入正常普通工作模式，反之进入测试模式。

进一步地，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：

当该传感器ID是预设的自定义测试模式ID时，进入测试模式；进入测试模式后，自动启动在二合一芯片里内置的无线通信测试代码，内置的测试代码会根据读取的ID设置无线数据传输所需要数据包格式的同步字段与载波频率；

同时，测试系统也设置与二合一芯片同样的数据包格式；

根据上述获得的同步字段与载波频率，在待测二合一芯片与测试系统之间，进行收发数据测试；测试系统是一个与二合一芯片之间完成无线收发数据的装置，测试系统内部主要由控制器与RF收发器构成。

本发明各实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，由于主要包括：给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试；可以解决无线鼠标二合一集成芯片测试的问题，大大提高了产品在市场的良品率有效率；从而可以克服现有技术中抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差的缺陷，以实现抗干扰能力强、测试效率高和准确性好的优点。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中被测芯片的测试流程图；

图2为本发明无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中测试系统的配置流程图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

根据本发明实施例，如图1和图2所示，提供了一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法。该无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，解决无线鼠标二合一集成芯片测试的问题，大大提高了产品在市场的良品率有效率。

本实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，主要包括：

a、给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；

b、读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试；

在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：

芯片上电后，读取传器ID，当该传感器ID不是预设的自定义测试模式ID时，二合一芯片进入正常普通工作模式，反之进入测试模式；

和/或，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：