[发明专利]基于恒星匹配的光电经纬仪参量优化方法有效
申请号: | 201410076721.0 | 申请日: | 2014-03-04 |
公开(公告)号: | CN103837160A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 罗一涵;张涯辉;陈科 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 孟卜娟;卢纪 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 恒星 匹配 光电 经纬仪 参量 优化 方法 | ||
技术领域
本发明属于光电测量领域,具体涉及光电经纬仪系统参量的求解和优化方法。
背景技术
由于环境参数和设备本身的原因,光电经纬仪的指向精度中往往包含有较大的误差。这种指向误差由很多因素造成,例如:
●系统误差:由环境和设备引起的测量值和理论值之间的误差,包括大气折射、望远镜的制造和装配误差、望远镜的重力变形以及因为温度变化引起的变形误差,望远镜的结构因素包括轴系的误差、镜筒的弯沉、叉臂或轭架的变形等等,同一视场短时间内可认为该误差不变;
●配准误差:编码器与图像的时间不同步而产生;
●靶心误差:靶心(即编码器在图像中的对应位置)不在图像中心;
●当量误差:图像中的位置转换到方位俯仰的系数存在误差;
●质心误差:由于曝光、帧累加、图像畸变、时间配准等因素而导致图像中目标的质心存在偏差;
●其它误差:如设备站址误差、时间误差、目标光行误差,等等。
其中,有些误差是光电经纬仪的参量所固有的,所以在进行任务的时候,往往需要将这些参量进行标校,以便进行测量和计算。比如,将目标在图像中的位置解算到方位角(A)和俯仰角(E)坐标系中时,需要用到编码器、靶心、当量、质心等信息。目前是采用传感器检测或人工测量的方法来取值。但在高精度应用中,这些参量的误差仍然偏大,精度仍不能满足要求。一个典型的例子就是,由于编码器与图像存在时间配准误差,目标测量位置会受到非线性的影响。当视场中有多颗恒星时,理论上各恒星之间的相对观测位置应该与星库中的理论位置相匹配,即星与星之间的相对距离应该一致,但事实却并非如此。如图1所示,无论怎样修正系统误差,用当前系统参量测量出的恒星观测值(用四角星表示)与理论值(用五角星表示)之间,总不能完全吻合,有时其相对误差可达数角秒之多,以致目标的测量精度难以评判。然而,目前尚无能够完全克服这些误差的方法,大多只是从定性的角度来减小误差(比如用曝光时间的中间值来作为编码器的时间)。因此,亟需一种更加精确高效的方法,能够对系统的参量进行定量、自动的优化,从而进一步提升光电经纬仪的测量精度和效率。
发明内容
本发明解决的技术问题:针对光电经纬仪的编码器、当量、靶心等系统参量精度不高,人工测量误差较大,传感器检测又存在时间上难以配准的问题,利用恒星匹配来对系统参量进行直接求解和优化。
本发明是利用恒星之间相对观测位置与理论位置的精确匹配,来反向求解系统的参量,从而实现参量在恒星匹配意义下的高精度优化。其基本原理如图2所示,具体实现步骤如下:
(1)建立恒星的测量方程并确定所需的系统参量;
(2)建立恒星匹配度目标函数和待优化参量组;
(3)根据恒星测量方程,推导优化所需要的条件;
(4)根据优化所需要的条件采集恒星图像,提取恒星质心,计算恒星的测量值和理论值;
(5)用优化算法对恒星匹配度目标函数进行优化,解出待优化参量组;
(6)利用优化后的参量推算或修正其它参量,或者对其它目标进行高精测量。
本发明与现有技术相比的有益效果在于:
利用该方法,不仅可以对系统的参量进行全自动定量的标校,而且可以避开时间配准等难题,大幅度提高经纬仪的测量精度。这里以一个用6颗星来进行参量优化的实例来说明。观测图像中的恒星和星库中对应恒星分布图如图3所示。表1中是用本发明方法进行优化前后的误差对比,其中相对误差定义为:以指定恒星为目标,用其它恒星的误差均值来修正该恒星,修正后的测量值和理论值之间的残差即为相对误差。可见,优化后比优化前的相对误差大大降低,比如恒星1的E相对误差从-4.4938″减小到-0.3114″,恒星3的E相对误差从2.9729″减小到0.6160″,恒星4的A相对误差从2.0330″减小到-0.2276″,恒星5的E相对误差从2.5276″减小到-0.8401″,等等。而且,在优化过程中直接解出了当量、编码器以及系统误差,从而避开了编码器的同步问题,同时标校了当量和系统误差,并使测量精度提高了数倍。
表1用图3中6颗恒星优化前后相对误差的对比
附图面说明
图1是光电经纬仪恒星测量不匹配现象示意图,其中四角星表示恒星的测量位置,五角星表示恒星的理论位置;
图2是基于恒星匹配的系统参量优化原理示意图,其中四角和五角星的意义同图1;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410076721.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于工程建设的吊装系统及其单点式翻转支架
- 下一篇:矿用新型快速移架撬杠