[发明专利]IGBT器件的故障检测方法及相应的检测电路

权利要求书

1.一种IGBT器件的故障检测方法，所述IGBT器件包括芯片、及与所述芯片电性连接的若干键合引线，其特征在于，所述故障检测方法包括如下步骤：

S1.设置与所述若干键合引线数量相对应的比较器，预设若干比较器中的比较值，所述比较值为脱落相应数量的键合引线时IGBT器件的栅极电压值，设置与所述若干比较器电性连接的可编程器件，设定所述可编程器件中的判断值，所述判断值为保证IGBT器件正常运行时所需导通的键合引线的最少根数；

S2.待IGBT器件开通后，测量IGBT器件的栅极电压值，将栅极电压值输入到若干比较器中与比较器中的比较值进行比较，若测量的栅极电压值大于或等于相应的预设值，则相应的比较器反馈第一信号给可编程器件，若测量的栅极电压值小于相应的预设值，则相应的比较器反馈第二信号给可编程器件；

S3.可编程器件将若干比较器的反馈结果进行输出，生成输出信号，当可编程器件接收到第一信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线出现脱落；当可编程器件只接收到第二信号时，则可编程器件生成的输出信号代表IGBT器件的键合引线运行正常，所述可编程器件将测量的栅极电压下导通的键合引线的根数与判断值比较，当小于该判断值时，可编程器件关断IGBT器件；当大于或等于该判断值时，可编程器件保证IGBT器件处于工作状态。

2.根据权利要求1所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述S2中可编程器件在IGBT器件开通后，经过预设时间，可编程器件接收第二次信号，所述预设时间小于所述IGBT器件的米勒平台电压持续的时间。

3.根据权利要求1所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件为CPLD或FPGA。

4.一种用于实现权利要求1所述IGBT器件的故障检测方法的检测电路，所述IGBT器件包括芯片、及与所述芯片电性连接的若干键合引线，其特征在于，所述检测电路包括若干相互并联的比较器、及与所述若干比较器相串联的可编程器件，所述比较器的数量与所述键合引线的数量相对应，所述若干比较器具有相应的比较值，所述比较值为脱落相应数量的键合引线时IGBT器件的栅极电压值。

5.根据权利要求4所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件具有判断值，所述判断值为保证IGBT器件正常运行时所需导通的键合引线的最少根数。

6.根据权利要求4所述的IGBT器件的故障检测方法，其特征在于，所述可编程器件为CPLD或FPGA。