[发明专利]一体式灵敏度试片及其制作和使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于无损检测的灵敏度试片及其制作和使用方法，特别是关于一种一体式灵敏度试片及其制作和使用方法。

背景技术

在采用磁粉探伤方法对工件进行探伤检查前，需要用灵敏度试片对探伤系统灵敏度进行校验，校验合格后才能对工件进行探伤作业。目前，在磁粉无损检测中，通常采用DT4A超高纯低碳纯铁材质的A1-15/50型灵敏度试片对探伤系统灵敏度进行校验。如图1所示，A1-15/50型灵敏度试片是一边长为20mm、厚度为50μm的正方体，以正方形中心为圆心设置一直径为10mm的圆形刻槽，以圆心为交点，在圆形刻槽内设置一边长为6mm的十字刻槽，圆刻槽和十字刻槽的深度均为15μm。在使用灵敏度试片对探伤系统灵敏度进行校验时，首先需要将灵敏度试片带有刻槽的一面与工件表面密贴，用胶带纸将灵敏度试片呈“井”字形粘贴牢固，并且胶带纸不得遮盖灵敏度试片的刻槽处，灵敏度试片的表面不得有磕碰伤、划痕、折皱和锈蚀等；然后对工件进行磁化并在灵敏度试片上喷淋磁悬液；在光照强度、探伤材料和探伤设备等均合格的条件下，观察灵敏度试片另一面上对应形刻槽的磁痕显示情况，当磁痕显示清晰完整时，表示探伤系统灵敏度校验合格，允许对工件进行探伤作业；否则，表示探伤系统灵敏度校验不合格，不允许对工件进行磁粉探伤作业。

实际上，在对工件进行探伤作业的过程中，往往会碰到形状各异且表面粗糙的工件。将现有技术中公开的灵敏度试片（例如A1-15/50型灵敏度试片）粘贴在工件表面对探伤系统灵敏度进行校验时，常存在以下问题：（1）由于现有灵敏度试片的体积较小、材质较脆、厚度较薄，在从包装中取出灵敏度试片时，需要用手直接捏住灵敏度试片将其拉出来，这种操作易导致灵敏度试片弯折。（2）在灵敏度试片粘贴过程中，需要直接用手按住其表面，再用胶带纸将灵敏度试片的四周呈“井”字形牢固地粘贴在工件上，由于工件表面粗糙度及形状各异，有的粗糙不平、有的位置窄小、有的形状变化较大等因素的存在，稍有不慎灵敏度试片就可能出现破损、凹凸不平或折痕等，而灵敏度试片出现的这种破损或折痕等一般无法修复，从而导致灵敏度试片的报废率较高。（3）如果灵敏度试片粘贴不当，导致胶带纸遮盖住圆刻槽和十字刻槽，则需要取下灵敏度试片并重新粘贴，在取下灵敏度试片的过程中也会导致其受损而不能使用。因此现有灵敏度试片的使用过程操作繁琐、费时费力且一般需要两个人配合才能完成，从而给现场探伤工作人员带来很大麻烦。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的是提供一种使用和保存方便且可重复使用的用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片及其制作和使用方法。

为实现上述目的，本发明采取以下技术方案：一种一体式灵敏度试片，它包括一表面为正方形的灵敏度试片，以所述正方形表面的中心为圆心，在所述正方形表面内设置有一圆形刻槽，以所述圆形刻槽的圆心为交点，在所述圆形刻槽内设置一十字刻槽；其特征在于：在所述灵敏度试片的十字刻槽所在面的背面设置一基体，在所述灵敏度试片的十字刻槽所在面设置粘贴胶条；所述灵敏度试片和粘贴胶条均以所述基体中心为基点固定在所述基体上，所述灵敏度试片、基体和粘贴胶条形成一体式结构。

所述基体设置为“井”字形，且“井”字形的四角均设置有一曲面凸起部，在所述基体的中央开设第一正方形孔。

所述第一正方形孔的边长比所述灵敏度试片上所设置圆形刻槽的直径大3mm～4mm。

所述基体采用塑料胶带、纸胶带、聚酯胶带和无纺布胶带中的一种，且所述基体的一侧面覆有粘胶。

所述粘贴胶条设置成与所述基体相同的形状，在所述粘贴胶条的中央开设第二正方形孔。

所述第二正方形孔的边长比所述第一正方形孔的边长大2mm～4mm。

所述粘贴胶条设置1～2层，各层所述粘贴胶条均采用单面带胶的塑料胶条，且各层所述粘贴胶条的形状相同，各层所述粘贴胶条的大小依次相差1mm以上。

一种所述一体式灵敏度试片的制作方法，其包括以下步骤：1）以所述基体中心为基点，将所述灵敏度试片粘接在所述基体中央；2）将所述粘贴胶条不带胶的一面固定在所述灵敏度试片和基体上，使所述粘贴胶条中央开设的第二正方形孔的中心与所述灵敏度试片的中心、所述基体的中心均重合；3）所述灵敏度试片、基体和粘贴胶条形成一体式结构，在所述一体式结构的表面覆盖塑料保护膜。