[发明专利]用于借助于2D照片通过3D表面检测系统进行物体标记的方法和系统

权利要求书

1.一种用于进行物体标记的系统（30），

所述系统具有3D表面检测系统（1），

所述3D表面检测系统至少具有：

测量台（10），在所述测量台（10）上能够安置有用于3D检测的部件（4，120，130）；

至少一个相机（7’，7”，……），

特别是多个相机（7’，7”，……），

所述相机拍摄所述部件（4，120，130）的二维的照片；

计算机，

借助所述计算机能够将所述相机（7’，7”，……）的所述二维的照片与所存储的3D模型进行比较，以及

借助于二维的照片和所存储的3D模型的最佳拟合而产生待测量的所述部件（4，120，130）的3D模型；

至少一个投影器（23），

特别是仅一个投影器（23），

所述投影器能够在所述部件（4，120，130）上产生标记（26，26’，26”，……）或者测量点图案，

所述测量点图案具有至少多个参考标识（13’，13”，……），

特别是其中所述测量台（10）具有所述参考标识（13’，13”）。

2.根据权利要求1所述的系统，

所述系统为了表面检查而具有能够实现投影的光结构的、特别是条带结构的照明装置（8’，8”），

和/或所述系统具有能够实现对所述部件（4，120，130）进行选择性照明的照明装置（8’，8”）。

3.根据权利要求1或2中一项或两项所述的系统，

所述系统具有外来光抑制，

特别是通过单色照明和图像评估来进行外来光抑制。

4.根据权利要求1所述的系统，

其中至少一个所述参考标识（13’，13”，……）具有多个标记（14’，14”，……）。

5.根据权利要求1或4中一项或两项所述的系统，

其中所述标记（14’，14”，……）以弯曲的形状、圆形或者椭圆形来设置。

6.根据权利要求1、4或5中一项或多项所述的系统，

其中至少一个所述参考标识（13’，13”，……）具有相同的或者不同的几何标记（14’，14”，……），

特别是虚线或点。

7.根据权利要求1、4、5或6中一项或多项所述的系统，

其中所述参考标识（13’，13”，……）设置在所述测量台（10）的端侧上。

8.根据权利要求1至7中一项或多项所述的系统，

其中一个所述相机（7’）或者多个所述相机（7’，7”）的相机镜头具有环形光，

和/或

所述相机镜头具有照明装置（8，8’），

所述照明装置能够实现侧向的暗场照明。

9.根据上述权利要求中一项或多项所述的系统，

其中所述相机（7’，7”，……），

特别是所有的相机（7’，7”，……）都固定地安装。

10.一种用于对部件（4，120，130）进行三维的物体标记的方法，

其中特别是使用根据权利要求1至10中的一项或多项所述的系统（30），

其中部件（4，120，130）在测量台（10）上的不同的位置中，

特别是在两个位置中，

由相机（7’，7”，……）二维地检测，并且

通过与所述部件（4，120，130）的已知的3D模型的最佳拟合来确定所述部件（4，120，130）的实际的三维度，

以及在构件（4，120，130）上产生测量点图案（26：26’，26”，……）以用于在所述测量点图案（26’，26”，……）的点上实施测量方法。

11.根据权利要求10所述的方法，

其中一次性地改变、特别是翻转、更特别是仅一次性地翻转所述部件（4，120，130）的位置。

12.根据权利要求10或11中一项或两项所述的方法，

其中

在所述部件（4，120，130）在所述测量台（10）上的位置改变之后，特别是翻转之后，使用参考标识（13’，13”，……），以便确定所述部件（4，120，130）在所述测量台（10）上的位置。