[发明专利]同心度测定装置、套管分类装置和同心度测定方法有效

专利信息
申请号: 201410054573.2 申请日: 2014-02-18
公开(公告)号: CN103994735B 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: 小林贤史;堀田佳寿;池泽信一郎 申请(专利权)人: 精工电子有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;B07C5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 李辉,徐丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 同心 测定 装置 套管 分类 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及测定套管的同心度的同心度测定装置、套管分类装置和同心度测定方法。

背景技术

在以尽可能接近正圆的方式将管的外表面或内表面等加工成圆形为目的而进行制造的部件中,作为表示该加工出的圆形(外表面或内表面)以怎样的程度接近正圆的指标,已知有同心度。

该同心度通常被定义为对象圆(例如,实际测定出的圆形状)的中心相对于基准圆(データム円)的中心的误差(位置偏差)的大小。该点在日本工业标准(JIS)的JIS标准编号(B0021)中也有相同的定义。

另外,作为上述部件的1个,已知有套管。该套管是用于在准确地对准光纤芯线端面的同时,使光纤彼此连接的部件。并且,该套管形成为沿其中心轴形成有贯通孔的圆筒状,在使光纤的芯线贯穿插入于贯通孔内状态下例如安装于光连接器部件。因此,为了在准确地对准芯线端面的同时使光纤彼此连接,特别地,以高等级要求套管的同心度的精度。

如果应用上述定义的同心度来考虑该套管的同心度的话,则如图8所示,将示出预先设定的基准孔200的中心位置200G与各贯通孔201的中心位置201G之间的偏移(在图示的例子中为d1~d4)中的最大偏移(在图示的例子为d4)的值作为套管的同心度,其中,中心位置201G是根据一边使套管旋转一边按照规定的旋转角度拍摄的各个摄像图像(在图示的例子中为4幅)而计算出的。即,最大偏移(d4)的值越小(越接近“0”),则同心度越好(接近正圆),越是高品质的套管。

此外,在根据按照规定的旋转角度拍摄的摄像图像来计算贯通孔201的中心位置201G时,通常使用最小二乘法。

此外,作为测定套管的同心度的方法中的1个,已知有如下方法:将根据摄像图像计算出的贯通孔的中心位置对准图像中心后,一边使套管旋转一边按照规定的旋转角度进行摄像,并根据从各摄像图像中计算出的各贯通孔的中心位置与图像中心的位置之间的偏移、以及基准部件到套管的外周面的距离的偏移来求出偏心量,由此测定同心度(例如参照专利文献1)。

专利文献1:日本特开平2-268204号公报

但是,在上述现有的情况下,如图9所示,如果在套管的贯通孔201的缘部存在缺口210、或者因尘埃等的附着而产生凸部211的话,上述缺口210或凸部211会摄入到摄像图像中,它们成为噪声(杂音信息),从而难以准确地计算贯通孔201的中心位置201G。因此,存在难以准确地测定同心度的情况。

此外,在采用与预先设定的基准圆的中心位置进行比较的方法的情况下,例如在变更了套管的形状(外径尺寸等)的情况下、或者在更换、变更了对套管进行支撑的支撑台的情况下等,需要进行校正基准圆的作业(校准作业)。因此,难以高效地进行同心度测定。

发明内容

本发明是考虑这样的情况而完成的,其目的涉及到能够不受缺口或尘埃等的附着的影响,高精度且高效地测定套管的同心度的套管的同心度测定装置、套管分类装置和同心度测定方法。

为了解决上述课题,本发明提供以下技术方案。

(1)本发明的同心度测定装置的特征在于,该同心度测定装置具有:旋转部,其使支撑在所述支撑台上的套管绕所述套管的中心轴旋转;摄像部,其一边通过所述旋转部使所述套管旋转,一边在不同的旋转角度对所述套管的孔进行摄像;假想中心提取部,其针对拍摄到的所述套管的孔的整个轮廓线,计算出所述轮廓线的法线,将各法线分别相交的多个交点中的交点数量最多的地点作为假想中心,针对每一拍摄到的所述套管的孔,分别提取所述假想中心;假想圆计算部,其通过最小二乘法来计算分别通过提取出的多个所述假想中心的假想圆;以及同心度计算部,其将计算出的所述假想圆的直径作为指标,来计算所述套管的同心度。

根据本发明的同心度测定装置,一边通过旋转部使套管旋转,一边通过摄像部在不同的旋转角度拍摄套管的孔(贯通孔),取得摄像图像。接着,假想中心提取部针对各摄像图像,通过图像处理进行孔的假想中心的提取。此时,假想中心提取部针对摄像图像中拍摄到的孔的整个轮廓线(线段),计算出该轮廓线的法线,提取各法线分别相交的多个交点中的交点数量最多的地点作为假想中心。这样,通过被称作所谓霍夫(Hough)变换的特征提取方法来提取假想中心,因此,即使在套管的孔拍摄到缺口或由尘埃等的附着导致的凸部,也很难受到这些杂音信息(噪声)的影响,容易将假想中心设置在与孔的正中心极其接近的位置。即,由于缺口或凸部处的轮廓线的法线不会集中于一点,因此,能够将这些法线排除在外。

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