[发明专利]用于提供指定点的静态和动态位置信息的方法和测量装置

权利要求书

1.一种用于提供测量装置(1，2)的指定点的静态和动态位置信息的方法，该测量装置(1，2)包括：

表面(32)；以及

结构(31)，该结构(31)包括所述指定点并且被布置成能够相对于所述表面(32)运动，

其中：

限定用于代表所述结构(31)的所述指定点相对于所述表面(32)的实际位置的模型；并且

通过基于所限定的模型的计算导出所述指定点的所述实际位置，

其特征在于，

所述模型包括用于对所述结构(31)进行建模的至少两个元胞(41，43-46，51)，其中

a)用于对所述结构(31)进行建模的所述至少两个元胞(41，43-46，51)被线性地布置在线性延伸方向上，

b)用于对所述结构(31)进行建模的所述元胞(41，43-46，51)中的至少一个元胞是一组至少一个可变元胞(43-46，51)中的可变元胞(43-46，51)；并且

c)所述至少一个可变元胞(43-46，51)具有关于所述延伸方向的可变伸长；

设定所述至少一个可变元胞(43-46，51)的实际伸长，以便对所述指定点的位置变化进行建模。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，设定所述至少一个可变元胞(43-46，51)的实际伸长，以便对所述指定点的、在线性延伸方向上的位置变化进行建模。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模型附加地包括用于对所述结构(31)进行建模的一组至少一个静态元胞(41)，其中：

用于对所述结构(31)进行建模的所述元胞(41，43-46，51)中的至少一个元胞是所述一组至少一个静态元胞(41)中的静态元胞(41)；

所述至少一个静态元胞(41)和所述至少一个可变元胞(43-46，51)被线性地布置在所述线性延伸方向上；并且

所述至少一个静态元胞(41)具有关于所述延伸方向的恒定伸长。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，用于对所述结构(31)进行建模的所述元胞(41，43-46，51)中的至少一个元胞被实现为用于对所述结构(31)的所述指定点与所述表面(32)之间的相互作用进行建模的互连元胞，其中：

该互连元胞被分配至所述表面(32)；并且

当对所述指定点的所述位置变化进行建模时所述互连元胞保持被分配至所述表面(32)。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述互连元胞被实现为具有相对于所述表面(32)的恒定位置；并且/或者通过改变至少两个可变元胞(43-46，51)的伸长来对所述位置变化进行建模。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，实现第一元胞(43)、中心元胞(41)和最后元胞(44)，其中：

所述中心元胞(41)属于所述一组至少一个可变元胞(43-46，51)或所述一组至少一个静态元胞并且被实现为用于对所述表面(32)和所述结构(31)之间的相互作用进行建模；并且

所述第一元胞(43)和所述最后元胞(44)属于所述一组至少一个可变元胞，并且通过改变所述第一元胞(43)和所述最后元胞(44)的伸长来对所述指定点的所述位置变化进行建模。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述模型包括关于所述线性延伸方向线性地布置的至少两个可变元胞(43-46，51)，其中通过设定所述至少两个可变元胞(43-46，51)的实际伸长来对所述指定点的所述位置变化进行建模。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，通过利用所述模型的更新的伸长参数重新计算所述指定点的位置来提供所述指定点的更新的实际位置，其中所述伸长参数代表所述至少一个可变元胞(43-46，51)的实际伸长并且通过改变所述伸长而被更新，并且/或者

通过基于所述模型计算而导出所述测量装置(1，2)的至少一部分的实际位置信息。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述更新的实际位置以预定的时间间隔提供。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述更新的实际位置通过连续地重新计算所述指定点的位置而连续地提供。