[发明专利]一种机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法有效
| 申请号: | 201410040138.4 | 申请日: | 2014-01-27 |
| 公开(公告)号: | CN103744081A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
| 发明(设计)人: | 林赟;郭振宇;谭维贤;王彦平;洪文;吴一戎 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 机载 合成孔径雷达 高精度 三维 成像 补偿 方法 | ||
1.一种机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法,其特征在于,该方法的步骤包括:
步骤S1:从原始回波数据中提取圆迹合成孔径雷达子孔径分层粗图像;
步骤S2:通过选取圆迹合成孔径雷达子孔径分层粗图像中的特显点,估计特显点的高度,对特显点重新成像,并对特显点图像加窗,提取特显点平面位置,获得圆迹合成孔径雷达加窗后的特显点图像;
步骤S3:将圆迹合成孔径雷达加窗后的特显点图像生成回波数据,对回波数据进行估计,得到圆迹合成孔径雷达360°全孔径的相位误差;
步骤S4:将相位误差补偿至原始回波数据,得到相位补偿后的信号,利用相位补偿后的信号重新对场景进行成像,从而提高圆迹合成孔径雷达的成像质量。
2.根据权利要求1所述的机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法,其特征在于,将所述圆迹合成孔径雷达360°全孔径平均划分子孔径,对每个子孔径进行高度向分层成像,共得到N×M个子孔径分层粗图像,N为平均划分的子孔径个数,M为分层总数。
3.根据权利要求1所述的机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法,其特征在于,原始回波函数表示为S0(θ),得到相位补偿后的信号表示为Sb(θ),其中θ为圆迹合成孔径雷达的方位角,0≤θ≤2π,b表示补偿后的信号的下标记。
4.根据权利要求1所述的机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法,其特征在于,所述选取特显点的步骤包括:特显点需在子孔径序号[Ni,min,Ni,max]、层数序号[Mi,min,Mi,max]的图像内均能被识别,其中子孔径序号[Ni,min,Ni,max]应满足i为特显点序号,1≤i≤I,I为特显点总数;N为平均划分的子孔径个数;下标min和max分别表示序号的起始和终止;相邻特显点的子孔径序号[Ni,min,Ni,max]和[Ni+1,min,Ni+1,max]之间有一段重合可见子孔径,即子孔径序号Ni,max>Ni+1,min,所有特显点能看见可见子孔径集合覆盖360°全孔径即:表示为可见子孔径序号[Ni,min,Ni,max]的并集。
5.根据权利要求1所述的机载圆迹合成孔径雷达高精度三维成像补偿方法,其特征在于,所述特显点是人造目标或自然地物,人造目标是角反射器或龙伯球,所述自然地物是具有散射强度的自然地物。
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