[发明专利]透镜驱动装置的光轴度测试方法

说明书

技术领域

本发明属于微型照相机测试技术领域，具体涉及一种透镜驱动装置的光轴度测试方法，用于判断并调整透镜驱动装置的静态光轴度。 

背景技术

目前，众所周知在移动电话、平板电脑以及数码相机等电子设备上安装有摄像头。在这些设备的摄像头中均安装有能够使得摄像头具备自动调焦功能的透镜驱动装置。在以往提出过的多种透镜驱动装置中，主要利用音圈马达（VCM）作为驱动方式。它的原理是通电的线圈在永久磁铁以及磁轭环构成的磁路中受到电磁感应力的作用而位移，从而带动透镜载体沿着光轴方向位移，达到调节焦距的目的。 

在透镜驱动装置的VCM特性测试中包括回滞、光轴度、最大行程和始动电流等参数。其中，镜头的光轴度，也就是安装在透镜驱动装置上的镜头光轴与图像传感器平面的垂线形成的角度在很大程度上决定了透镜驱动装置的质量等级，因此光轴度是非常重要的参数。由于透镜驱动装置的光轴度测量是通过置入其中的透镜来实现的，因此在下面简称为透镜光轴度。另外，透镜驱动装置的最大行程（MAX STR）是指镜头在电磁感应力作用下的最大位移，也是透镜驱动装置的重要参数之一。 

 透镜的光轴度分为透镜静态光轴度和透镜动态光轴度。其中，透镜静态光轴度反映的是透镜驱动装置在静止状态下的绝对水平度，而透镜动态光轴度是指透镜驱动装置在通电的状态下带动透镜位移的过程中透镜光轴度的变化情况，却不能反映透镜在运动之前的水平度。值得关注的是，目前透镜静态光轴度的测量需要选择绝对平面，虽然能够获得透镜静态光轴度的数据，但是却存在无法获得透镜驱动装置的高低位置具体信息的缺陷，对于提高透镜驱动装置的质量等级意义不大，因而在实际测量中，通常忽略对透镜的静态光轴度测试，只对透镜的动态光轴度进行测试。 

然而，随着微型照相机中使用的图像传感器的 CMOS 技术的发展，高像素和超高像素的图像传感器得到了普遍应用，人们对透镜驱动装置的光轴度提出了更为严苛的要求。但是在目前的透镜驱动装置中，各零部件加工尺寸的偏差尤其是后磁轭环在透镜载体配合孔方向上的突起高度的偏差不可避免，并不能完全保证透镜在运动之前处于绝对水平的状态。在这种情况下，不仅需要对透镜静态光轴度进行测量，更需要一种能够获得透镜驱动装置高低位置具体信息的测试方法，以便把握透镜在运动之前的水平度状况，并且得以确认并排除光轴度不良的因素，达到提高透镜静态光轴度的目的。 

 鉴于上述状况，本申请人作了有益的探索，终于形成了下面将要介绍的技术方案，并且在采取了保密措施下在本申请人厂区的检测仪器上进行了反复的检测，结果证明是切实可行的。 

发明内容

本发明的任务是提供一种透镜驱动装置的光轴度测试方法，该方法操作简单并且能方便地把握透镜在运动之前的水平度状况以及进而依据水平度状况对透镜静态光轴度进行调整。         

本发明的任务是这样来完成的，一种透镜驱动装置的光轴度测试方法，包括以下步骤：

A）制作透镜驱动装置，该透镜驱动装置包括一第一磁轭，该第一磁轭构成有一底壁和一磁轭腔，在底壁的中央位置开设有一与磁轭腔相通的透镜载体配合孔；一绝缘片，该绝缘片置入于所述磁轭腔内，与所述底壁朝向磁轭腔的一侧接触，并且该绝缘片的四周边缘侧面与磁轭腔的腔壁接触，在绝缘片的中央位置开设有一形状以及大小与所述透镜载体配合孔相一致的并且位置与透镜载体配合孔相对应的透镜载体让位孔；容纳于所述磁轭腔内的一第一簧片和一垫片，第一簧片位于所述绝缘片与垫片之间，垫片的垫片侧面与磁轭腔的腔壁接触；一透镜载体和一线圈，透镜载体连同线圈容纳于所述磁轭腔内，该透镜载体朝向所述底壁的一侧与第一簧片相配合，并且该透镜载体还与所述透镜载体配合孔相配合，线圈绕设在透镜载体的外周壁上；一组磁石，该一组磁石嵌置在所述磁轭腔内并且各磁石的内侧圆弧面与所述线圈相配合；一容纳于所述磁轭腔内的第二簧片，该第二簧片朝向所述磁石的一侧与磁石贴触，并且同时与所述透镜载体背对所述第一簧片的一侧相配合，而第二簧片的簧片边缘侧面与磁轭腔的腔壁贴触，在该第二簧片的中央构成有一通孔，该通孔的直径与所述透镜载体配合孔的直径相等；一第二磁轭，该第二磁轭与所述的第一磁轭相配合，在该第二磁轭的中央位置开设有直径与所述通孔的直径相等的透镜载体孔，其中：在所述的第一磁轭的所述底壁上并且围绕所述透镜载体配合孔的四周以间隔状态开设有与所述磁轭腔相通的一组透镜载体调整孔，在一组透镜载体调整孔上各配设有用于对容纳于磁轭腔内的并且与透镜载体配合孔相配合的所述透镜载体实施调整的透镜载体调整螺钉，透镜载体调整螺钉与透镜载体朝向所述底壁的一侧接触；