[发明专利]透镜驱动装置的光轴度测试方法

权利要求书

1.一种透镜驱动装置的光轴度测试方法，其特征在于包括以下步骤：

A）制作透镜驱动装置，该透镜驱动装置包括一第一磁轭(1)，该第一磁轭(1)构成有一底壁(11)和一磁轭腔(12)，在底壁(11)的中央位置开设有一与磁轭腔(12)相通的透镜载体配合孔(111)；一绝缘片(2)，该绝缘片(2)置入于所述磁轭腔(12)内，与所述底壁(11)朝向磁轭腔(12)的一侧接触，并且该绝缘片(2)的四周边缘侧面(21)与磁轭腔(12)的腔壁接触，在绝缘片(2)的中央位置开设有一形状以及大小与所述透镜载体配合孔(111)相一致的并且位置与透镜载体配合孔(111)相对应的透镜载体让位孔(22)；容纳于所述磁轭腔(12)内的一第一簧片(3)和一垫片(4)，第一簧片(3)位于所述绝缘片(2)与垫片(4)之间，垫片(4)的垫片侧面(41)与磁轭腔(12)的腔壁接触；一透镜载体(5)和一线圈(6)，透镜载体(5)连同线圈(6)容纳于所述磁轭腔(12)内，该透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧与第一簧片(3)相配合，并且该透镜载体(5)还与所述透镜载体配合孔(111)相配合，线圈(6)绕设在透镜载体(5)的外周壁上；一组磁石(7)，该一组磁石(7)嵌置在所述磁轭腔(12)内并且各磁石的内侧圆弧面(71)与所述线圈(6)相配合；一容纳于所述磁轭腔(12)内的第二簧片(8)，该第二簧片(8)朝向所述磁石(7)的一侧与磁石(7)贴触，并且同时与所述透镜载体(5)背对所述第一簧片(3)的一侧相配合，而第二簧片(8)的簧片边缘侧面(81)与磁轭腔(12)的腔壁贴触，在该第二簧片(8)的中央构成有一通孔(82)，该通孔(82)的直径与所述透镜载体配合孔(111)的直径相等；一第二磁轭(9)，该第二磁轭(9)与所述的第一磁轭(1)相配合，在该第二磁轭(9)的中央位置开设有直径与所述通孔(82)的直径相等的透镜载体孔(91)，其中：在所述的第一磁轭(1)的所述底壁(11)上并且围绕所述透镜载体配合孔(111)的四周以间隔状态开设有与所述磁轭腔(12)相通的一组透镜载体调整孔(112)，在一组透镜载体调整孔(112)上各配设有用于对容纳于磁轭腔(12)内的并且与透镜载体配合孔(111)相配合的所述透镜载体(5)实施调整的透镜载体调整螺钉(1121)，透镜载体调整螺钉(1121)与透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧接触；

B）在所述的透镜载体(5)内安装一测试用的标准镜头S，该标准镜头S具有一激光反射区域S1，先将安装有标准镜头S的所述透镜驱动装置安顿于激光测试仪中，开启激光测试仪，将由激光测试仪发出的激光束对准激光反射区域S1，并且在该激光反射区域S1内选取两个或以上的任意测点投射激光，每选取一个测点投射一次激光便按下一次激光测试仪的按钮一次，从而在激光测试仪的显示装置的屏幕上显示激光反射区域S1内的各个测点的激光反射最大行程值数据；

C）对由步骤B）得到的并且由所述屏幕显示的激光反射区域S1内的各个测点的激光反射最大行程值数据进行观察，当各个测点的激光反射最大行程值数据相同时，则设置在所述透镜载体(5)上的所述标准镜头S的标准镜头光轴中心Z与所述第一磁轭(1)的低壁(11)平面的垂直方向之间的夹角θ为零度，所述的透镜载体(5)处于水平状态，当各个测点的激光反射最大行程值数据不同时，则设置在所述透镜载体(5)上的所述标准镜头S的镜头光轴中心Z与所述第一磁轭(1)的低壁(11)平面的垂直方向之间的夹角θ不为零度，所述透镜载体(5)处于非水平状态，通过对所述透镜载体调整螺钉(1121)调整而直至使透镜载体(5)处于水平状态。

2.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法，其特征在于所述的第一磁轭(1)的外廓为矩形或圆形，并且在所述的底壁(11)的边缘部位开设有一组安装架插脚孔(113)。

3.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法，其特征在于在所述的绝缘片(2)的透镜载体让位孔(22)的孔壁上并且在对应于所述的一组透镜载体调整孔(112)的位置凹设有数量与透镜载体调整孔(112)相等的调整螺钉让位凹腔(221)。