[发明专利]键盘检测设备及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测设备，尤指一种键盘检测设备及其检测方法。

背景技术

在现今信息化的时代里，键盘为计算机设备中一个非常重要也不可或缺的外部输入指令来源的配件。然而，该键盘的按键的高低及倾斜度则会影响使用者打字的舒适度及顺畅度。所以有必要对该键盘进行检测以判断各按键的高低及倾斜度是否皆属于标准规范内。

目前对于键盘的检测方式是采用人工的方式进行检测，如中国新型专利第202204432号的方式，其以检测工具置于该键盘上，并利用自身具有的上限杆与下限杆形成的间隙对各按键的高度进行检测，再以检测人员的肉眼判断各按键是否在制造完成的标准规范内。

然而，人工检测产生大量人力的成本，且检测时间冗长，并且肉眼易产生误判的情形。

因此，发展一种机械检测方式，将检测工具移至该键盘的按键上进行检测，并于其中一按键上停留以进行该按键的高度测量，待量测完毕后，再移往下一个按键进行检测。

此种检测方式虽可提高检测良率，但此种检测方式因需停留于每一按键上方一定的时间，所以仍需耗费多时，因而大幅影响产品的出货率。

因此，如何克服上述现有技术的种种问题，实已成目前亟欲解决的课题。

发明内容

鉴于上述现有技术的种种问题，本发明的目的为提供一种键盘检测设备及其检测方法，有效提升整体检测键盘的效率。

本发明的键盘检测设备，其包括：激光装置，其用于检测键盘的按键的高度或倾斜度；以及位移控制装置，其带动该激光装置位移。

由上可知，本发明还提供一种键盘检测方法，包括：提供一具有多个按键的键盘与前述的键盘检测设备，利用该位移控制装置移动该激光装置，使该激光装置于移动中同时检测该按键的高度或倾斜度，藉以节省量测时间与人力成本，从而可提升整体检测键盘的效率，并提高产品出货率。

附图说明

图1为本发明的键盘检测设备的立体示意图。

主要组件符号说明

1        键盘检测设备

10       侦测装置

11       激光装置

12       位移控制装置

120      滑轨

2        基台

9        键盘

90       按键

具体实施方式

以下藉由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点及功效。

须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用于配合说明书所揭示的内容，以供本领域技术人员的了解与阅读，并非用于限定本发明可实施的限定条件，所以不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上方”及“一”等用语，也仅为便于叙述的明了，而非用于限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当也视为本发明可实施的范畴。

图1为本发明键盘检测设备1的立体示意图。如图1所示，该键盘检测设备1设于基台2上，其包括：一侦测装置10、一激光装置11以及一位移控制装置12。

所述的侦测装置10用于撷取一键盘9上的按键90的位置，即该按键90的坐标位置。于本实施例中，该侦测装置10为具有电荷耦合器（Charge-coupled Device,CCD）的图像感测装置，其由相机、镜头及光源组合而成，但该侦测装置10的种类不以此为限。

所述的激光装置11用于检测该按键90的高度和倾斜度。该激光装置11的种类繁多，并无特限制。

所述的位移控制装置12带动该侦测装置10与该激光装置11位移。于本实施例中，该位移控制装置12为水平移动装置，如图1所示的二维型，即X-Y轴方向。具体地，该位移控制装置12包含多个滑轨120，以滑接该激光装置11及该侦测装置10，使该激光装置11及该侦测装置10的移动更为稳定与顺畅。此外，该位移控制装置12具有控制系统，以操控该侦测装置10与该激光装置11的位移路径。

于本发明的键盘检测方法中，是使用该键盘检测设备1，其步骤如下所述。

首先，利用该位移控制装置12移动该侦测装置10，使该侦测装置10撷取该键盘9的每一个按键90的位置（如图像信息），再将该信息输入至该位移控制装置12的控制系统。