[发明专利]低功率均衡器及其训练有效
申请号: | 201380076999.1 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN105247827B | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | L·A·约翰逊;S·保-斯雷曼 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H04L27/01 | 分类号: | H04L27/01;H04B1/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功率 均衡器 及其 训练 | ||
1.一种用于均衡的装置,所述装置包括:
用于接收输入信号的接收片;
耦合至接收片的静电放电(ESD)单元;以及
可操作用于对于所述输入信号的非孤位转换将第一后达残留ISI抽头匹配到第一前达残留ISI抽头的线性均衡器LE,其中所述线性均衡器LE被耦合至用于在与参考电压无偏移的情况下取样所述输入信号的非偏移取样器,以及用于在与所述参考电压有相应的电压偏移的情况下取样所述输入信号的第一偏移取样器和第二偏移取样器。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:
耦合至所述LE、可操作用于执行LE均衡训练和展开的决策反馈均衡器(DFE)功能的取样器。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,还包括用于当所述输入信号的两个相邻位相同时选择所述偏移取样器的输出的逻辑。
4.如权利要求2所述的装置,其特征在于,还包括用于当所述输入信号的两个相邻位不同时选择所述非偏移取样器或多个非偏移取样器的输出的逻辑。
5.如权利要求2所述的装置,其特征在于,还包括用于将偏移取样器的偏移设置成所述第一后达残留ISI抽头和所述第一前达残留ISI抽头之和的逻辑。
6.如权利要求2所述的装置,其特征在于,还包括用于调谐所述偏移取样器的偏移以最大化所述接收的输入信号的信号完整性的逻辑。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括用于训练所述LE的逻辑。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述用于训练LE的逻辑用于通过修改所述LE的误差函数以在所述输入信号的两个相邻位相同时忽略数据来训练LE。
9.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述用于训练LE的逻辑用于在调谐偏移取样器的偏移之前训练所述LE。
10.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述用于训练LE的逻辑用于在调谐偏移取样器的偏移的同时训练所述LE。
11.一种用于均衡的装置,所述装置包括:
可操作用于执行线性均衡训练和执行展开的决策反馈均衡器(DFE)的功能的取样器,其中取样器包括用于在与参考电压无偏移的情况下取样输入信号的非偏移取样器,以及用于在与所述参考电压有相应的电压偏移的情况下取样所述输入信号的第一偏移取样器和第二偏移取样器;以及
用于在所述输入信号的两个相邻位相同时从所述取样器中选择偏移取样器的输出的逻辑。
12.如权利要求11所述的装置,其特征在于,还包括:
可操作用于对于所述输入信号的非孤位转换将第一后达残留ISI抽头匹配到第一前达残留ISI抽头的线性均衡器LE。
13.如权利要求12所述的装置,其特征在于,还包括用于训练所述LE的逻辑。
14.如权利要求13所述的装置,其特征在于,所述用于训练LE的逻辑用于在调谐偏移取样器的偏移之前训练所述LE,其中所述偏移取样器是部分取样器。
15.如权利要求14所述的装置,其特征在于,所述用于训练LE的逻辑用于在调谐偏移取样器的偏移的同时训练所述LE。
16.如权利要求11所述的装置,其特征在于,还包括用于当所述输入信号的两个相邻位不同时从所述取样器中选择非偏移取样器的输出的逻辑。
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