[发明专利]光学触摸断层扫描有效

专利信息
申请号: 201380069063.6 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN105247455A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: J·皮奥特;M·柯伦吉亚;D·柯察金;I·多科马尼克;M·沃特利;O·德拉姆 申请(专利权)人: 拉普特知识产权公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/042
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民;赵志刚
地址: 直布罗*** 国省代码: 直布罗陀;GI
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摘要:
搜索关键词: 光学 触摸 断层 扫描
【权利要求书】:

1.一种分解在触摸敏感表面上的多个触摸区域处发生的多点触摸事件的方法,所述方法包括计算机处理器执行以下步骤:

接收由所述多点触摸事件产生的多个光束测量值bn,其中不同的光束测量值bn由透射穿过所述触摸敏感表面的不同光束产生,并且所述多点触摸事件干扰所述触摸区域附近的光束;

根据所述光束测量值bn确定绑定值估计p’i,所述绑定值估计p’i估计在所述触摸敏感表面的对应位置Li处的光束干扰,其中确定所述绑定值估计p’i基于将从绑定值pi到所述光束测量值bn的传递函数建模为线性传递函数;以及

根据所述绑定值估计p’i确定所述多点触摸事件的所述触摸区域。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述线性传递函数被描述为:

b=Mp,

其中:

b是所述光束测量值bn的列向量,

p是所述绑定值pi的列向量,以及

M是线性传递函数,并且所述矩阵M的每列n是由位置Li处的参考触摸产生的所述光束测量值bn,所述参考触摸对应于绑定值pi=1。

3.根据权利要求2所述的方法,其中确定绑定值估计p’i包括将逆过程应用到b=Mp。

4.根据权利要求2所述的方法,其中确定绑定值估计p’i包括评估

P’=Rb,

其中:

p’是所述绑定值估计p’i的列向量,以及

R是所述线性传递函数M的逆矩阵。

5.根据权利要求4所述的方法,其中R是稀疏矩阵。

6.根据权利要求4所述的方法,其中R中位置Li处的触摸不干扰所述光束测量值bn的光束的元素为零。

7.根据权利要求2所述的方法,其中b=Mp超定。

8.根据权利要求2所述的方法,其中所述光束测量值bn的数目大于位置Li的数目。

9.根据权利要求2所述的方法,其中所述矩阵M的每列n至少50%为零。

10.根据权利要求2所述的方法,其中所述参考触摸占用小于100平方毫米的有限面积,并且所述矩阵M的每列n包含所述有限面积外的零元素。

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述参考触摸占用恒定面积。

12.根据权利要求10所述的方法,其中所述参考触摸占用可变面积。

13.根据权利要求2所述的方法,其中邻近位置Li处的参考触摸重叠。

14.根据权利要求2所述的方法,其中参考触摸占用至少1000个位置Li

15.根据权利要求2所述的方法,其中邻近位置Li处的参考触摸不重叠。

16.根据权利要求2所述的方法,其中所述矩阵M的每列n包括小于零的元素。

17.根据权利要求1所述的方法,还包括:

接收从发射器到检测器的光束的光学测量值,其中光学测量值是沿所述光束的触摸事件的非线性函数;以及

通过应用非线性函数根据所述光学测量值计算所述光束测量值bn

18.根据权利要求17所述的方法,其中所述非线性函数是对数函数。

19.根据权利要求17所述的方法,其中所述非线性函数是从发射器到检测器的光束的光学透射比的对数函数。

20.根据权利要求17所述的方法,其中所述非线性函数是从发射器到检测器的光束的光学透射比的对数函数的线性化近似,所述线性化近似表示所述光束的光学损失系数。

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