[发明专利]噪声检测及校正例程有效
申请号: | 201380050670.8 | 申请日: | 2013-09-13 |
公开(公告)号: | CN104685457B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 安德鲁·沃利斯;伯克·戴维森 | 申请(专利权)人: | 密克罗奇普技术公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;H03K17/955 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人: | 沈锦华 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 噪声 检测 校正 例程 | ||
相关申请案的交叉参考
本申请案主张2012年9月13日提出申请的美国临时申请案第61/700,399号的权益,所述美国临时申请案如同完全陈述一般以其全文并入本文中。
技术领域
本发明涉及主动噪声拒斥,特定来说涉及针对触摸传感器及触摸屏系统的主动噪声拒斥的取样优化。
背景技术
电容性触摸传感器用作(例如)计算机、移动电话、个人便携式媒体播放器、计算器、电话、收银机、汽油泵等电子设备的用户接口。在某些应用中,不透明触摸传感器提供软键功能性。在其它应用中,透明触摸传感器覆盖显示器以允许用户经由触摸与所述显示器上的物体交互。此类物体可呈软键、菜单及显示器上的其它物体的形式。当物体(例如,用户的指尖)致使电容性触摸传感器的电容改变时,电容性触摸传感器或触摸屏因其电容改变而被激活(控制指示激活的信号)。
此类触摸屏及触摸传感器高度地受其环境影响。因此,电容性触摸解决方案的重要特性为其拒斥噪声的能力。其它传感器应用可遭受类似限制。
特定来说,针对传导性噪声抗扰性,根据IEC(国际电工技术委员会)标准61000-4-6来测试电容传感器应用。此类型的噪声作为低于平均值的随机变化出现于传感器的信号上,且在用户的身体接近传感器时变得更差。
在信号上存在噪声的情况下,传感器必须经多次取样以验证结果并非因随机变化所致的意外。随着噪声的量增加,额外样本的量也必须增加。此减慢系统的总体响应时间,进而导致不合意的用户体验。以一个固定取样率进行扫描将致使系统在某些噪声频率下良好地执行,而其它频率可致使信号降级到不可操作的程度。
发明内容
一种用于根据实施例来降低传感器测量系统中的噪声的方法包含:执行电容/数字转换测量;检测所述传感器测量系统正经历噪声;及动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述方法进一步包含对所述取样波形进行滤波。
一种用于根据实施例来降低传感器测量系统中的噪声的系统包含:噪声检测器,其用于以电容/数字转换测量来检测噪声;噪声校正模块,其可操作地耦合到所述噪声检测器且经配置以动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟;及噪声滤波器,其用于对所述取样波形进行滤波。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述系统包含用于对所述取样波形进行滤波的数字滤波器。
一种根据实施例的计算机程序产品包含:一或多个有形计算机可读媒体,其包含当在计算机上执行时实施用于降低传感器测量系统中的噪声的方法的指令,所述方法包含:执行电容/数字转换测量,检测所述传感器测量系统正经历噪声,及动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,检测传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,检测传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述方法进一步包含对所述取样波形进行滤波。
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