[发明专利]被检体信息获取装置以及被检体信息获取装置的控制方法有效

专利信息
申请号: 201380048189.5 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN104640499B 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 佐藤章 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 欧阳帆
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 被检体 信息 获取 装置 以及 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种被检体信息获取装置,把光照射在被检体上、接收在被检体中生成的声波并且基于所述声波来获取关于被检体内部的信息,其特征在于,

被检体信息获取装置包括:

第一光源,被配置为生成要照射在被检体上的第一照射光,所述第一照射光被发射以生成来自被检体的声波;

第二光源,被配置为生成要照射在被检体上的第二照射光;

第一照明光学系统,连接到第一光源并且被配置为把第一照射光引导至被检体;

第二照明光学系统,连接到第二光源并且被配置为把第二照射光引导至被检体;

光传感器单元,包括光传感器并且被配置为获取被检体上的由于照射在被检体上的第二照射光的反射而导致的反射光的强度信号;以及

控制设备,被配置为基于由光传感器单元获取的反射光的强度信号来确定第一照射光的照射适当性,其中

第二照明光学系统与第一照明光学系统共享光学构件的至少一部分。

2.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,当由光传感器单元获取的反射光的强度信号指示预定范围内的值时,控制设备使得能够进行第一照射光的照射。

3.根据权利要求2所述的被检体信息获取装置,其中所述预定范围的上限值是指示由于第一照射光在被检体表面上的反射而导致的反射光具有就安全性而言不能被允许的强度的值。

4.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中第一照射光的发射端口和第二照射光的发射端口相同。

5.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中

第二光源还包括被配置为根据预定的调制模式来对第二照射光进行调制的调制单元,并且

光传感器单元从由光传感器检测到的光的强度信号获取匹配所述调制模式的信号,由此获取已由被检体反射的第二照射光的强度信号。

6.根据权利要求2所述的被检体信息获取装置,其中所述预定范围的下限值是在被检体内部反射的第二照射光可以取的值。

7.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中第二照明光学系统与第一照明光学系统共享光学构件的至少一部分,使得第二照射光在被检体的表面附近引起与第一照射光的光量分布相似的光量分布。

8.根据权利要求7所述的被检体信息获取装置,其中,

当由光传感器单元获取的反射光的强度信号指示预定范围时,控制设备使得能够进行第一照射光的照射,

当第二照射光与第一照射光的照射能量的比率为1∶N,损害的最大允许曝光为M[J/m2],并且光传感器的光接收面积为S[m2]时,所述预定范围的上限值由表达式1指示,

9.根据权利要求8所述的被检体信息获取装置,其中最大允许曝光在国际电工委员会的60825-1“激光产品安全”中指定。

10.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中当由光传感器单元获取的反射光的强度等于或小于在被检体内部反射的第二照射光的强度值可以取的下限值时,控制设备禁止第一照射光的照射。

11.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中当由光传感器单元获取的反射光的强度等于或大于基于就安全性而言被允许的第一照射光强度的上限值的值时,控制设备禁止第一照射光的照射。

12.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中

光传感器单元包括多个光传感器,

其中,控制设备基于分别由所述多个光传感器获取的反射光的强度信号来确定第一照射光的照射适当性。

13.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中

第一照明光学系统的至少一部分以及光传感器被布置在探针中,

光传感器相对于探针的中心被布置在相比于第一照明光学系统的发射端口的更外侧。

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