[发明专利]被检物质的检测系统有效

专利信息
申请号: 201380035326.1 申请日: 2013-07-02
公开(公告)号: CN104487845B 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 平濑匠;中山雅人;半田宏;坂本聪;内藤靖之 申请(专利权)人: 凸版印刷株式会社;国立大学法人东京工业大学
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N21/64
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 崔香丹,李英艳
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 物质 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种被检物质的检测系统,包括:

磁性体,是由第一物质修饰的磁性体,该第一物质能够通过所述被检物质的第一结合部位与所述被检物质进行结合;

标识体,是由第二物质修饰的标识体,该第二物质能够通过与所述第一结合部位不同部位的所述被检物质的第二结合部位结合于所述被检物质;

展开介质,包含具有透光性的第一薄片、具有透光性的第二薄片、以及流路,所述流路通过所述第一薄片和所述第二薄片中相互面向的平面构成、且具有通过毛细管现象吸引分散有所述磁性体和所述标识体的液体的间隔,并在所述流路的一部分中具有用于检测所述标识体的检测位置,而且,至少在所述检测位置中具有透光性;以及

磁力发生部,设置于所述展开介质中并用于使所述磁性体保持在所述流路的一部分中。

2.如权利要求1所述的被检物质的检测系统,其中,

还具有检测从所述流路内发出的光的检测装置。

3.如权利要求2所述的被检物质的检测系统,其中,

所述标识体具有色素。

4.如权利要求2所述的被检物质的检测系统,其中,

所述检测装置包括:发出含有指定波长的激发光的光源;向所述流路照射所述激发光的光路部件;去除所述激发光的滤波器;以及检测透过所述滤波器的光的检测部,

所述标识体被通过所述激发光发出荧光的荧光物质标识。

5.如权利要求1~4中任一项所述的被检物质的检测系统,其中,

所述第一物质选自于由抗体、片段化抗体、完全抗原、半抗原以及适体所组成的组中。

6.如权利要求1~4中任一项所述的被检物质的检测系统,其中,

所述第二物质选自于由抗体、片段化抗体、完全抗原、半抗原以及适体所组成的组中。

7.如权利要求5所述的被检物质的检测系统,其中,

所述第二物质选自于由抗体、片段化抗体、完全抗原、半抗原以及适体所组成的组中。

8.如权利要求1或2所述的被检物质的检测系统,其中,

所述标识体含有选自于比色物质、发光物质、酶发色物质以及氧化还原物质所组成的组中的标识物质。

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