[发明专利]暗场成像有效
申请号: | 201380034140.4 | 申请日: | 2013-06-26 |
公开(公告)号: | CN104428659B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G06T11/00;A61B6/03 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 李光颖,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 暗场 成像 | ||
1.一种用于暗场成像的方法,包括:
利用包括X射线干涉仪的成像装置来采集物体的至少两个暗场图像投影;
对于每个所采集的暗场图像投影将具有预定频率的压力波应用于所述物体,其中,所述预定频率对于每个暗场图像投影是不同的;并且
处理所采集的至少两个暗场图像投影,从而生成所述物体的3D图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述压力波引起所述物体的材料的变形。
3.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,在所述成像装置的源/探测器对(402/408)与支撑用于扫描的所述物体的所述成像装置的对象支撑物(416)之间没有相对移动的情况下采集所述至少两个暗场图像投影。
4.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,在所述至少两个暗场图像投影的采集期间将压力应用于所述物体。
5.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括:
在没有将任何压力波应用于所述物体的情况下采集参考暗场图像投影。
6.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,所述预定频率为1Hz至1000Hz的范围内的频率。
7.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,针对在所采集的至少两个暗场图像投影中包括的暗场信号,傅立叶变换被执行。
8.根据权利要求7所述的方法,还包括:
通过反向进行所述傅立叶变换并且沿着穿过所述物体的每条射线重建分布来生成所述物体的所述3D图像。
9.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括:
迭代地重建所采集的至少两个暗场图像投影的离散公式,从而在单个组合重建中求解弹性场和暗场。
10.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括:
将所述成像装置的所述X射线干涉仪的吸收器光栅进行步进以对所述至少两个暗场图像投影进行相位编码。
11.一种成像系统(400),包括:
扫描器(401),其被配置为用于暗场成像,所述扫描器包括:源/探测器对(402/408)、对象支撑物(416)和X射线干涉仪;
压力波发生器(420),其被配置为生成并且发射具有预定频率的压力波;以及
控制台(424),其控制所述扫描器和所述压力波发生器以利用应用于物体的具有不同频率的不同压力波来采集所述物体的至少两个暗场投影。
12.根据权利要求11所述的成像系统,其中,所述压力波引起所述物体的材料的变形。
13.根据权利要求11至12中的任一项所述的成像系统,
其中,所述X射线干涉仪包括:
源光栅(410),
相位光栅(412),以及
吸收器光栅(414);并且
所述成像系统还包括光栅步进器(418),其将所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个关于另一个进行步进以对所述至少两个暗场投影进行相位编码。
14.根据权利要求11至12中的任一项所述的成像系统,其中,在所述源/探测器对(402/408)与所述对象支撑物(416)之间没有相对移动的情况下采集所述至少两个暗场投影。
15.根据权利要求11至12中的任一项所述的成像系统,还包括:
暗场信号处理器(422),其处理所采集的至少两个暗场投影并且生成所述物体的3D图像。
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