[发明专利]测试单元控制器的决策和执行树的创建和调度有效

专利信息
申请号: 201380029168.9 申请日: 2013-04-11
公开(公告)号: CN104583789B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 亨利·阿诺德;布瑞恩·布拉斯;皮埃尔·高彻尔;杰姆斯·史蒂芬·莱德福特 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 代理人: 李晓冬
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测试 单元 控制器 决策 执行 创建 调度
【权利要求书】:

1.一种测试器件的方法,所述方法包括:

确定计算窗,其中所述计算窗是器件测试活动低于测试装置的活动阈值的时间段,其中至少一个计算窗出现在器件测试活动期间,其中所述测试装置被连接到探测器和处理器;并且

在所述计算窗期间创建并执行决策树,其中所述决策树包括测试结果的被安排的测试分析以及被安排为响应于测试分析而执行的测试控制动作的选择,

其中在所述计算窗期间,所述测试装置的计算能力的第一部分被所述测试装置的测试分析模块用于创建和执行所述决策树,其中所述测试装置的计算能力的第二部分被所述测试装置的测试控制模块用于执行所述器件测试活动,并且其中所述测试装置的计算能力被所述测试分析模块和所述测试控制模块共享。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述计算窗由开始时间和结束时间来定义,并且其中所述计算窗进一步定义何时停止、延迟或同步化所述决策树的调度和执行。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述确定计算窗包括访问来自所述测试装置的所述探测器和处理器中至少一者的通信以定义探测器和处理器事件,其中所述探测器和处理器事件包括被测器件转位时段,所述被测器件转位时段包括:

被测器件换出和所述换出的估计时间;

从完成的测试流程结束到下一测试流程执行开始之间的时间段;以及

X轴和Y轴位置以及晶片确定结束。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述活动阈值是以下各项中的至少一项:

测试过程空闲时段;

低测试活动监测时段;以及

被测器件转位时段。

5.根据权利要求1所述的方法,其中调度和执行决策树包括以下各项中的至少一项:

收集和监测测试数据;

确定并对选择的控制规则进行优先级排序,并将所述选择的控制规则安排到决策树中;

分析收集的测试数据;以及

响应于测试数据分析执行至少一个控制规则动作。

6.根据权利要求1所述的方法,其中在所述计算窗期间,由探测器和处理器分别执行来自所述测试分析模块的第二探测器和处理器命令,而不中断来自所述测试控制模块的先前的探测器和处理器命令的生成和发送以便分别由所述探测器和处理器执行。

7.一种用于测试器件的装置,所述装置包括:

测试控制模块,所述测试控制模块用于对被测器件执行测试活动,其中所述测试活动产生测试结果;以及

测试分析模块,所述测试分析模块用于创建和执行决策树,其中所述决策树包括测试结果的被安排的测试分析以及响应于测试分析而要执行的测试控制动作的选择,其中所述测试分析模块在计算窗期间创建并执行所述决策树,并且其中所述计算窗是器件测试活动低于所述装置的活动阈值的时间段,其中至少一个计算窗出现在器件测试活动期间,并且其中所述装置被连接到探测器和处理器,

其中在所述计算窗期间,所述装置的计算能力的第一部分被所述测试分析模块用于创建和执行所述决策树,其中所述装置的计算能力的第二部分被所述测试控制模块用于执行所述器件测试活动,并且其中所述装置的计算能力被所述测试分析模块和所述测试控制模块共享。

8.根据权利要求7所述的装置,其中所述测试分析模块进一步用于通过开始时间和结束时间定义所述计算窗,并且进一步用于确定何时停止、延迟或同步化所述决策树的调度和执行。

9.根据权利要求7所述的装置,其中所述测试分析模块进一步用于通过访问来自所述探测器和处理器中的至少一者的通信从而定义探测器和处理器事件来确定所述计算窗,其中所述探测器和处理器事件包括被测器件转位时段,所述被测器件转位时段包括:

被测器件换出和所述换出的估计时间;

从完成的测试流程结束到下一测试流程执行开始之间的时间段;以及

X轴和Y轴位置以及晶片确定结束。

10.根据权利要求7所述的装置,其中所述活动阈值是以下各项中的至少一项:

测试过程空闲时段;

低测试活动监测时段;以及

被测器件换出时段。

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