[发明专利]温度测量仪器、温度测量仪器组和用于配置利用热电偶可运行的温度测量仪器的方法

权利要求书

1.一种温度测量仪器(3)，包括分别用于接纳热电偶(2)的接触元件(9、10)的至少两个配合接触元件(11、12)，其特征在于，在所述至少两个配合接触元件(11、12)中的至少一个第一配合接触元件(11、12)处设置有第一测量传感器(13、14)，利用所述第一测量传感器能够探测与所述第一配合接触元件(11、12)插接连接的接触元件(9、10)的磁特性。

2.按照权利要求1所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，在所述至少两个配合接触元件(11、12)中的第二配合接触元件(11、12)处设置有第二测量传感器(13、14)，利用所述第二测量传感器能够探测插入所述第二配合接触元件(11、12)中的接触元件(9、10)的磁特性。

3.按照权利要求1或2所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，所述第一测量传感器(13、14)和/或所述第二测量传感器(13、14)能够由操控单元(15)读取，所述操控单元(15)根据所述第一测量传感器(13、14)和/或所述第二测量传感器(13、14)的输出信号提供所插入的热电偶(2)的特性曲线或特定信息。

4.按照权利要求1至3之一所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，在存储单元(16)中存储有用于至少两种不同类型的热电偶(2)的特性曲线；和/或在存储单元(16)中存储的特性曲线能够利用操控单元(15)根据所述第一测量传感器(13、14)和/或所述第二测量传感器(13、14)的输出信号来选择和/或提供。

5.按照权利要求1至4之一所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，在所述插接件接纳部(8)或一个插接件接纳部处或在所述配合接触元件(11、12)的空间附近或在所述配合接触元件(11、12)之间设置有温度传感器(17)，该温度传感器限定所述热电偶(2)的比较位置(6)。

6.按照权利要求1至5之一所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，所述第一测量传感器(13、14)和/或所述第二测量传感器(13、14)设计用于探测铁磁特性。

7.按照权利要求1至6之一所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，所述第一测量传感器(13、14)和/或所述第二测量传感器(13、14)作为优选偏置的磁场传感器设计。

8.按照权利要求1至7之一所述的温度测量仪器(3)，其特征在于，在所述插接件接纳部(8)或一个插接件接纳部处构造有用于取向正确地连接所述热电偶(2)的所述连接插接件(7)或一个连接插接件的机构(19)。

9.一种温度测量仪器组(1)，包括至少一个热电偶(2)和用于评估所述热电偶(2)的温度测量仪器(3)，所述热电偶由在该热电偶(2)的测量点(4)处相互连接的两种不同的金属制造，所述热电偶(2)具有形成用于温度测量的比较位置(6)的至少两个接触元件(9、10)，其特征在于，所述温度测量仪器(3)按照上述权利要求之一构成。

10.一种用于配置利用热电偶(2)可运行的温度测量仪器(3)的方法，其特征在于，在将所述热电偶(2)连接到所述温度测量仪器(3)上之后，测试或测量所述热电偶(2)的接触元件(9、10)的磁特性，并且根据所述磁特性的测试或测量结果自动提供所连接的热电偶(2)的特定信息和/或特性曲线。