[发明专利]触摸屏、触摸面板、显示装置以及电子仪器

说明书

技术领域

本发明涉及触摸屏、触摸面板、显示装置以及电子仪器。

背景技术

作为对由使用者的手指或者笔等指示体所指示出的触摸屏上的位置(以下有时称为“触摸位置”)进行检测并输出的装置，公知有触摸面板。作为触摸面板中的触摸位置的检测方式，已知多种检测方式。作为其中的静电电容方式的触摸面板的一种，具有投影型静电电容(Projected Capacitive)方式的触摸面板。

投影型静电电容方式的触摸面板即使在利用厚度为数mm左右的玻璃板等保护板将触摸屏的使用者侧表面(以下有时称为“正面侧表面”)覆盖的情况下，也能够检测触摸位置。投影型静电电容方式的触摸面板具有下述等优点，即，由于能够将保护板配置在正面侧表面，因此坚固性优异、以及由于没有可动部，因此具有长寿命。

投影型静电电容方式的触摸面板的触摸屏构成为，具有对列方向的触摸位置的坐标进行检测的检测用列配线、和对行方向的触摸位置的坐标进行检测的检测用行配线(例如，参照专利文献1)。在以下的说明中，有时将检测用列配线和检测用行配线统称为“检测用配线”。

在专利文献1中公开有相当于触摸面板的触摸板系统。在专利文献1中公开的触摸板系统作为用于检测静电电容(以下，有时简称为“电容”)的检测用配线，具有形成在薄的电介质膜上的第1序列的导体元件、和在第1序列的导体元件上隔着绝缘膜而形成的第2序列的导体元件。各导体元件之间没有电接触，在从正面侧表面的法线方向观察时的第1序列的导体元件和第2序列的导体元件中的一者与另一者重叠，形成没有电接触的交叉部分。

通过利用检测电路对在手指等指示体与作为检测用配线的导体元件之间形成的电容(以下有时称为“触摸电容”)进行检测，从而确定指示体的触摸位置的位置坐标。另外，利用大于或等于1的导体元件的检测电容的相对值，能够对导体元件间的触摸位置进行插补。

在以下的说明中，将在透明电介体基板上配置有检测用列配线和检测用行配线的部件称为“触摸屏”，将检测用电路与触摸屏连接而成的装置称为“触摸面板”。另外，在触摸屏中，将能够检测触摸位置的区域称为“操作区域”。

在触摸屏的操作区域中，为了在各处检测指示体的触摸位置，需要将检测用配线细密地配置在操作区域上。在如上所述将检测用配线细密地配置在操作区域上的情况下，需要避免检测用配线被使用者看到的问题。

如果利用例如铟锡氧化物(Indium Tin Oxide；简称：ITO)等透明导电膜构成检测用配线，则检测用配线被使用者看到的可能性变低。但是，ITO等透明导电膜由于电气电阻(以下，有时简称为“电阻”)较高，因此，存在不利于触摸屏的大型化的问题。另外，ITO等透明导电膜的光透过率(以下，有时简称为“透过率”)不太高，因此，在利用液晶显示元件(Liquid Crystal Display；简称：LCD)等从触摸屏的背面侧表面，即，从使用者侧的相反侧照亮触摸屏而进行使用的情况下，需要较多量的光，存在不利于低消耗电力化的问题。

作为检测用配线的材料，也能够使用例如银或者铝等低电阻的金属材料。作为检测用配线，通过使用由金属材料构成的配线(以下有时称为“金属配线”)，从而能够降低检测用配线电阻，但金属配线是不透明的，因此，存在容易被看到的问题。为了降低金属配线的可见性、且提高触摸屏的透过率，需要将金属配线细线化。

如果将细线化后的金属配线作为检测用配线使用，而细密地配置在触摸屏的操作区域上，则会产生检测用列配线和检测用行配线之间的寄生电容(以下有时称为“线间电容”)大幅度增大的问题，例如引起配线延迟增大这样的问题。

对于配线延迟，通过减少配线电阻，从而能够一定程度地缓和配线延迟。为了缓和配线延迟，例如在专利文献2中公开了减少配线电阻的技术。

在专利文献2中公开的触摸屏，通过使检测用列配线以及检测用行配线形成为分别将直线状且细线状的金属配线连结而成的锯齿形图案，从而同时实现了低电阻化和线间电容的减少。

另外，在专利文献2中公开的触摸屏中，将大致在行方向上延伸设置的多条检测用行配线电气连接，而形成行方向的束配线，并且，将大致在列方向上延伸设置的多条检测用列配线电气连接，而形成列方向的束配线。由此，能够对由手指等指示体和检测用行配线之间的电容、以及指示体和检测用列配线之间的电容构成的触摸电容进行均匀地检测。