[实用新型]具有电磁屏蔽的PCB测试治具

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及PCB测试治具，尤其涉及一种具有电磁屏蔽的PCB测试治具。

【背景技术】

目前在PCB测试技术领域，由于一些光板的网络关系，以及测试治具的本身进行压合后在松开瞬间，会释放出几千伏的干扰电荷，这些干扰的电荷信号也会通过依次通过测试探针、针床上的弹簧针、电子测试卡测试阵列点、卡片上的信号通道的尖端空间放电区域和卡片横梁，通入系统大地；当电荷能量足够高的情况下，难免会在尖端放电区域形成放电火花，进而形成空间干扰，而由于测试卡片的ASIC芯片，比较脆弱，这些空间火花放电足以形成对其进行干扰，致使ASIC芯片功能紊乱，必须进行断电才能恢复正常。

现有治具的结构不能屏蔽一些特殊PCB光板以及压合后产生电磁干扰的需求。为了能够实现测试更加平稳，以及提高测试效率，所以需设计新的测试治具的机构来满足要求。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于有效克服上述技术的不足，提供一种在设备压合、释放过程中产生的干扰电荷进行屏蔽的PCB测试治具，此种PCB测试治具能对被测试的PCB光板上产生的静电荷进行有效释放。

本实用新型的技术方案是这样实现的：它包括测试支撑板，该测试支撑板的上方用于放置PCB测试面板，所述测试支撑板的下方设有多个分层板隔块以及间隔设置在分层板隔块之间的分层板，所述分层板和测试支撑板上设有用于放置探针的探针孔，所述分层板上穿套有支柱，其改进之处在于：所述最底端的分层板隔块下方设有组合板，该组合板由依次叠加的第一夹层定位板、屏蔽隔离层、第二夹层定位板以及底层固定板构成，所述屏蔽隔离层为铝皮，且屏蔽隔离层的两端凸出于所述的第一夹层定位板和第二夹层定位板，屏蔽隔离层的凸出部分电性连接至测试机的接地端；所述组合板设有支柱孔、定位销孔以及测试探针孔，所述支柱孔设置在上述支柱下方；

在上述的结构中，所述组合板上设置有多个支柱孔。

在上述的结构中，所述支柱孔在第一夹层定位板、屏蔽隔离层以及第二夹层定位板上均为同心的直通孔，且屏蔽隔离层上的直通孔的孔径大于第一夹层定位板和第二夹层定位板上的直通孔的孔径；所述支柱孔在底层固定板上为通孔，且底层固定板的下表面为沉孔。

在上述的结构中，所述支柱孔在第一夹层定位板、屏蔽隔离层以及第二夹层定位板上均为同心的直通孔，且屏蔽隔离层上的直通孔的孔径，比第一夹层定位板和第二夹层定位板上的直通孔的孔径大0.5mm。

在上述的结构中，所述测试探针孔在第一夹层定位板、屏蔽隔离层以及第二夹层定位板上均为同心的直通孔，且屏蔽隔离层上的直通孔的孔径大于第一夹层定位板和第二夹层定位板上的直通孔的孔径；所述测试探针孔在底层固定板上的孔，其上层镂空，下层为标准钻孔。

在上述的结构中，所述测试探针孔在第一夹层定位板、屏蔽隔离层以及第二夹层定位板上均为同心的直通孔，且屏蔽隔离层上的直通孔的孔径，比第一夹层定位板和第二夹层定位板上的直通孔的孔径大0.5mm。

在上述的结构中，所述组合板上设置有多个定位销孔。

在上述的结构中，所述定位销孔在第一夹层定位板、屏蔽隔离层以及第二夹层定位板上均为同心的直通孔，定位销孔在底层固定板上为半通盲孔，且三个直通孔和一个半通盲孔的孔径均相等。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型克服了现有治具的结构上存在的重大的问题，提供了一种在设备压合、释放过程中产生的干扰电荷进行屏蔽的PCB测试治具，此种PCB测试治具能对被测试的PCB光板上产生的静电荷进行有效释放，及时有效的消除了静电荷对设备电子部件的干扰，提高设备运作的高效性，提高了治具在测试应用中的测试效率高效化。

【附图说明】

图1为本实用新型的具体实施例图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为图2中A处的局部放大图。

【具体实施方式】

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。