[实用新型]一种用于管道检测器姿态检测的安装结构有效
申请号: | 201320869720.2 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN203732068U | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 魏晓虹;时兆峰;李晗;刘建丰;晏升辉 | 申请(专利权)人: | 北京自动化控制设备研究所 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01C1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 管道 检测器 姿态 检测 安装 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于管道检测器姿态检测的安装结构,属于管道检测技术领域。
背景技术
由于管道检测器检测运行的管道直径小,且检测器采用强磁体的磁场特性测量管道缺陷,因此要求姿态检测系统管径小、体积小、尺寸精度高、具有屏蔽特性、安装灵活等特点,这些特点会造成姿态检测系统内部空间狭小,分部件安装困难。而采用惯性测量原理的安装结构,其体积大,无法满足姿态检测系统安装空间及性能的要求。为满足姿态检测系统安装空间及性能的要求,发明了一种用于管道检测器姿态检测的安装结构。
发明内容
本实用新型实施例的目的是提供一种用于管道检测器姿态检测的安装结构,该安装结构能满足检测器对姿态检测系统的需求,能保证姿态系统的性能需求。
本实用新型的技术方案:
本发明提供一种用于管道检测器姿态检测的安装结构,包括安装支架、屏蔽盖和屏蔽罩,所述安装支架放置于屏蔽罩内,屏蔽盖盖在屏蔽罩上,两者组成封闭的腔体;其中,
所述安装支架为圆柱腔体,其底面为安装平面板,其上有一豁口,圆柱腔体的圆柱面由安装垂面板和安装支撑柱面围成,所述安装垂面板为门框结构与所述安装平面板上的豁口构成正交安装结构;
圆柱腔体内,所述安装支撑柱面内壁上有若干个突出的柱台,在所述安装平面板上每个所述柱台旁边有安装台面;
所述屏蔽盖为腔式结构,其上有环形突面;
屏蔽罩为腔式结构。
所述柱台为4个,沿圆柱面内壁均匀分布。
所述安装平面板上围绕圆心有若干个陀螺安装孔。
所述安装垂面板上有若干个垂向电路板安装孔。
所述柱台上有检测器安装孔。
所述安装支撑柱面的立柱面上有若干个屏蔽盖安装孔,安装支撑柱面的侧壁柱面上有3个屏蔽罩安装孔。
所述屏蔽盖上,圆心位置有第一连接器安装孔,沿圆周均匀分布若干个安装支架连接孔,在所述安装支架连接孔旁有姿态检测系统与管道检测器连接孔。
所述屏蔽罩底面有第二连接器安装孔,侧面边缘有若干个安装支架与屏蔽罩的连接孔。
所述安装台面上有电路板安装孔,用于固定姿态检测系统的信号处理电路板。
所述安装结构的材质为铁镍软磁合金。
本发明与现有技术相比的有益效果:
本实用新型安装结构能满足检测器对姿态检测系统的需求,能保证姿态系统的性能需求。而且,在使用过程中,该安装结构便于装配、简单轻便、安装灵活、小巧实用。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型的实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型一种用于管道检测器姿态检测的安装结构三维示意图;
图2是本实用新型安装支架正面三维结构示意图;
图3是本实用新型屏蔽盖正面三维结构示意图;
图4是本实用新型屏蔽罩正面三维结构示意图;
图5是本实用新型屏蔽罩反面三维结构示意图。
附图标记说明:
1.安装支架,2.屏蔽盖,3.屏蔽罩,4.安装平面板,5.安装垂面板,6.安装支撑柱面,7.安装台面,8.柱台,9.传感器放置口、10.电路板安装孔、11.豁口、12.垂面板通孔、13.陀螺安装孔、14.屏蔽盖安装孔、15.检测器安装孔、16.屏蔽罩安装孔、17.安装支架连接孔、18.屏蔽盖与检测器安装孔、19.第一连接器安装孔、20.第二连接器安装孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
管道检测器姿态检测系统主要包括陀螺仪、倾角传感器组合、电路板、安装结构。其中,倾角传感器组合包括水平倾角传感器和垂直倾角传感器,用于构成正交的三维倾角传感器组合;电路板包括垂向电路板和水平电路板,垂向电路板用于垂向传感器的通讯,水平电路板用于水平传感器的通讯及姿态检测测量系统的信号处理。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京自动化控制设备研究所,未经北京自动化控制设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320869720.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光纤温度应变系数测量装置
- 下一篇:影像筛选机的工件定位机构