[实用新型]平面检测仪有效

专利信息
申请号: 201320858397.9 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN203744943U 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 徐业培 申请(专利权)人: 南京德朔实业有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211106 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 平面 检测
【说明书】:

技术领域

 本实用新型涉及一种光学检测仪,具体涉及一种平面检测仪。

背景技术

随着科技的发展,激光测量和检测的技术越来越成熟,因此越来越多的激光仪器应用到我们的生活中来,比如激光扫平仪、激光测距仪等。

但是在日常施工中会经常遇到需要检测一个工作平面是否平整的情况,尤其是水平面是否平整。如果采用水平尺等类似测量工具因尺寸方面的限制,只能实现小面积的检测,在大面面积平整度测量时,会显得效率低下。而大型的专业检测设备,如基建方面的路面平整检测仪器、工地平整检测仪器等,价格昂贵,且不适用于一般性的家庭装修场所。

现在尚没有一种结构简洁实用且检测效率较高的平面检测仪器。

发明内容

为解决现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种结构简单实用且能实现大面积检测的平面检测仪。

为了实现上述目标,本实用新型采用如下的技术方案:

一种平面检测仪,包括:主机体,主机体包括:外壳,能向基准方向发射检测光线的检测光源,能将检测光源所发射的检测光线向第一方向折射的第一光路元件,能将检测光源所发射的检测光线向与第一方向倾斜相交的第二方向折射的第二光路元件,第一光路元件和第二光路元件均设置在检测光源的检测光线的光路上,第一光路元件的第一方向和第二光路元件的第二方向倾斜相交且它们均与检测光源的基准方向倾斜相交。

进一步地,主机体还包括:能使检测光源的基准方向始终垂直于水平面的自垂系统。

进一步地,自垂系统包括:光源基座以及能使光源基座一直保持竖直的自垂机构;检测光源设置于光源基座中。

进一步地,自垂机构包括:上机体、摆环、下机体、摆锤;上机体与外壳固定连接,上机体与摆环构成以第一轴线为轴的转动连接,摆环与下机体构成以第二轴线为轴的转动连接,摆锤固定在下机体的底端,光源基座与下机体固定连接,第一轴线、第二轴线相互垂直且位于同一平面内。

进一步地,上机体、下机体分别位于摆环的两侧;上机体和摆环设有能使光源基座穿过并在其中摆动的通孔;光源基座部分穿过上机体和摆环并设置在下机体形成的容纳腔中。

进一步地,上机体形成有两个对称设置在摆环两侧的上悬臂,下机体形成有两个对称设置在摆环两侧的下悬臂;上悬臂和下悬臂均设有转轴孔,摆环四周对称设置有转轴,转轴通过其外围套装的转动轴承装配至转轴孔中。

进一步地,主机体还包括:光路支架组件,光路支架组件包括:支撑架以及分别用于装配第一光路元件和第二光路元件的第一镜框、第二镜框,支撑架与光源基座固定连接,第一镜框和第二镜框均安装在支撑架上。

进一步地,支撑架为能使第一镜框和第二镜框之间的距离发生变化的伸缩支架。

进一步地,检测光源的基准方向、第一光路元件的第一方向、第二光路元件的第二方向两两之间具有固定的相对夹角。

进一步地,第一光路元件和第二光路元件为两个锥度不同的锥面镜或锥面镜的一部分。

进一步地,外壳包括:能使第一光路元件和第二光路元件所折射的光线投射出外壳的透光罩。

进一步地,该平面检测仪还包括:能够成移动的行走装置,主机体安装在行走装置上。

本实用新型的有益之处在于:通过两道光路不同的检测光线交叉的方式检测平面的平整程度,在检测面不平处,检测光线分离,这样可以快速检测出不平整的区域,该平面检测仪结构合理、检测效率高,适用于中等面积的平面度检测。

附图说明

图1是本实用新型平面检测仪一个优选实施例的外形结构示意图;

图2是图1所示实施例中部分结构的示意图;

图3是图2所示结构中自垂系统以及检测光源的爆炸结构示意图;

图4是图1所示实施例的光路原理示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作具体的介绍。

参照图1所示,本实用新型的平面检测仪100包括:主机体10和行走装置20。

其中,主机体10用于投射出用于检测平面度的检测光线,其包括外壳11,行走装置20用于承载着主机体进行移动。

作为优选方案,外壳11包括:能使第一光路元件101和第二光路元件102所折射的光线投射出外壳11的透光罩111。

行走装置20既可以使为了节省用户体力一般无动力源的机械装置,比如带有脚轮的小车,也可以是能够自动控制行走路线并能依靠自身动力行走的复杂的自动化行走系统。

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