[实用新型]平面检测仪有效

专利信息
申请号: 201320858397.9 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN203744943U 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 徐业培 申请(专利权)人: 南京德朔实业有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211106 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 平面 检测
【权利要求书】:

1.一种平面检测仪,包括:主机体,所述主机体包括外壳,其特征在于,所述主机体还包括:能向基准方向发射检测光线的检测光源,能将所述检测光源所发射的检测光线向第一方向折射的第一光路元件,能将所述检测光源所发射的检测光线向与所述第一方向倾斜相交的第二方向折射的第二光路元件,所述第一光路元件和第二光路元件均设置在所述检测光源的检测光线的光路上,所述第一光路元件的第一方向和第二光路元件的第二方向倾斜相交且它们均与所述检测光源的基准方向倾斜相交。

2.根据权利要求1所述的平面检测仪,其特征在于,所述主机体还包括:能使所述检测光源的基准方向始终垂直于水平面的自垂系统。

3.根据权利要求2所述的平面检测仪,其特征在于,所述自垂系统包括:光源基座以及能使所述光源基座一直保持竖直的自垂机构;所述检测光源设置于所述光源基座中。

4.根据权利要求3所述的平面检测仪,其特征在于,所述自垂机构包括:上机体、摆环、下机体、摆锤;所述上机体与所述外壳固定连接,所述上机体与摆环构成以第一轴线为轴的转动连接,所述摆环与下机体构成以第二轴线为轴的转动连接,所述摆锤固定在所述下机体的底端,所述光源基座与所述下机体固定连接,所述第一轴线、第二轴线相互垂直且位于同一平面内。

5.根据权利要求4所述的平面检测仪,其特征在于,所述上机体、下机体分别位于所述摆环的两侧;所述上机体和摆环设有能使所述光源基座穿过并在其中摆动的通孔;所述光源基座部分穿过所述上机体和摆环并设置在所述下机体形成的容纳腔中。

6.根据权利要求5所述的平面检测仪,其特征在于,所述上机体形成有两个对称设置在所述摆环两侧的上悬臂,所述下机体形成有两个对称设置在所述摆环两侧的下悬臂;所述上悬臂和下悬臂均设有转轴孔,所述摆环四周对称设置有转轴,所述转轴通过其外围套装的转动轴承装配至所述转轴孔中。

7.根据权利要求3所述的平面检测仪,其特征在于,所述主机体还包括:光路支架组件,所述光路支架组件包括:支撑架以及分别用于装配所述第一光路元件和第二光路元件的第一镜框、第二镜框,所述支撑架与所述光源基座固定连接,所述第一镜框和第二镜框均安装在支撑架上。

8.根据权利要求7所述的平面检测仪,其特征在于,所述支撑架为能使所述第一镜框和第二镜框之间的距离发生变化的伸缩支架。

9.根据权利要求1所述的平面检测仪,其特征在于,所述检测光源的基准方向、第一光路元件的第一方向、第二光路元件的第二方向两两之间具有固定的相对夹角。

10.根据权利要求1至9任意一项所述的平面检测仪,其特征在于,所述第一光路元件和第二光路元件为两个锥度不同的锥面镜或锥面镜的一部分。

11.根据权利要求1至9任意一项所述的平面检测仪,其特征在于,所述外壳包括:能使所述第一光路元件和第二光路元件所折射的光线投射出所述外壳的透光罩。

12.根据权利要求1至9任意一项所述的平面检测仪,其特征在于,还包括:能够成移动的行走装置,所述主机体安装在所述行走装置上。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京德朔实业有限公司,未经南京德朔实业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320858397.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top