[实用新型]用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪有效
申请号: | 201320818912.0 | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN203672844U | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 庄鸿涛;郁光;方华 | 申请(专利权)人: | 上海华爱色谱分析技术有限公司 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/20;G01N30/60 |
代理公司: | 上海浦东良风专利代理有限责任公司 31113 | 代理人: | 陈志良 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 高纯 锗烷气中 微量 杂质 分析 离子化 色谱仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种气相色谱仪,特别是公开一种微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪,利用氦离子检测器的高灵敏度检测锗烷中ppb级别杂质,是一种用于对高纯锗烷气中微量杂质分析的检测设备。
背景技术
锗烷在常温常压下为具有不愉快刺激臭的无色剧毒气体,其作为一种重要的电子工业用气体,主要作为半导体材料制造过程中形成锗硅薄膜的外延生长原料气,其纯度直接关系到成品半导体器件的质量。随着国内电子工业的发展,锗烷应用越来越广,国内生产及应用锗烷的单位越来越多。
目前分析高纯气体,国内一般采用传统的TCD或FID检测器,他们检测器灵敏度大多不高,并且分析所需杂质可能要几台色谱连用才能实现全分析。高纯锗烷气分析的设备就更为稀少了。国内乃至国际均未制定锗烷产品和检测方法的具体标准。由于相关检测方法的缺失,国内用户对于进口锗烷气体质量把关上存在着盲点。
发明内容
本实用新型的目的是解决现有技术的难题,设计一种用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪,来完善高纯锗烷气中微量杂质的分析,本实用新型适合国情,能为用户接受。
本实用新型是这样实现的:用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪,其特征在于:所述的氦离子化气相色谱仪包括色谱柱箱、温控系统、信号采集处理系统和尾气处理系统,所述的信号采集系统包括氦离子化检测器和色谱柱工作站,所述的温控系统实现各个色谱柱和检测器的独立控温,并且控制色谱柱温度按照时间程序升温,所述色谱柱工作站的结构包括三个切换阀、三个色谱柱、四个针阀和三个载气气路,所述的三个切换阀为一个十通阀和两个六通阀,所述的氦离子化检测器与色谱柱工作站的线路连接。
所述色谱柱工作站的三个切换阀、三个色谱柱、四个针阀和三个载气气路分别为第一切换阀1、第二切换阀2、第三切换阀3、第一根Hayesep Q色谱柱14、第二根Hayesep Q色谱柱16、5A分子筛色谱柱15、第一针阀17、第二针阀18、第三针阀19、第四针阀20、第一载气气路11、第二载气气路12和第三载气气路13,它们的连接线路为:
第一切换阀1上设有第一根Hayesep Q色谱柱14;第二切换阀2和第三切换阀3之间设有第二根Hayesep Q色谱柱16;第一切换阀1和第三切换阀3之间设有5A分子筛色谱柱15;第二切换阀2上接有第一针阀17和第二针阀18;第三切换阀3上接有第三针阀19,第四针阀20和所述的氦离子化检测器相连。
作为优选,第一载气气路11气路与第一切换阀1的④号接口连接、第二载气气路12气路与第一切换阀1的⑧号接口连接;样品进口与第一切换阀1的①号接口连接,样品出口与第一切换阀1的②号接口连接,第一切换阀1的③号接口与第一切换阀1的⑩号接口用管路连接,在该管路上还设有定量管5;第一切换阀1的⑨号接口和第一切换阀1的⑥号接口连接的管路上设有第一根Hayesep Q色谱柱14;第一切换阀1的⑤号接口和5A分子筛色谱柱15一端连接;第一切换阀1的⑦号接口和第二切换阀2的①号接口连接。
作为优选,第三载气气路13气路与第二切换阀2的③号接口连接;第二切换阀2的②号接口与第二根Hayesep Q色谱柱16一端连接;第二切换阀2的④号接口与第二针阀18连接、第二切换阀2的⑥号接口与第一针阀17连接。
作为优选,第三切换阀3的①号接口与检测器4连接;第三切换阀3的②号接口与第二根Hayesep Q色谱柱15另一端连接;第三切换阀3的⑥号接口和5A分子筛色谱柱15另一端连接;第三切换阀3的⑤号接口与第三针阀19连接、第三切换阀3的③号接口与第四针阀20连接。
作为优选,第一针阀17、样品出口气路和氦离子化检测器4出口连接到尾气处理系统上。
所述的氦离子化气相色谱仪采用十通阀正吹GeH4,通过预柱切割使H2、O2组分、CO2、GeH4、Ge2H6实现分离,作为优选,第一切换阀1为十通吹扫气动切换阀,第二切换阀2、第三切换阀3为六通吹扫气动切换阀。具体线路如下:
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