[实用新型]一种反射率测量装置有效
| 申请号： | 201320761496.5 | 申请日： | 2013-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN203606281U | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 赵卫;张文松;朱香平;代丽辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;E21B43/24 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 张倩 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 反射率 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种反射率测量装置，其特征在于：包括入射光路、出射光路以及光学探头，所述入射光路包括依次连接的电源、光源、第一耦合器以及第一传导光纤，所述出射光路包括依次连接的第二传导光纤、第二耦合器、探测器以及信号处理电路，所述光学探头的一端与待测的汽液两相流接触，所述第一传导光纤的输出端以及第二传导光纤的输入端均与光学探头的另一端连接，所述光学探头为光学反射率探头。
2.根据权利要求1所述的反射率测量装置，其特征在于：所述第一耦合器和第二耦合器均为透镜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320761496.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种子弹链装配机构的进料装置
- 下一篇：轻武器通用夜间射击微光辅助瞄准装置
