[实用新型]X射线检测曝光升降支架有效

专利信息
申请号: 201320684401.4 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN203534985U 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 贺全伟;吕建平;陈德超;邓昌明;冯定国;邵素芬 申请(专利权)人: 武汉一冶钢结构有限责任公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 唐万荣
地址: 430080 湖北省武汉市青山区工*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 射线 检测 曝光 升降 支架
【权利要求书】:

1.X射线检测曝光升降支架,其特征在于:包括有一对分体式升降支架,每一个升降支架包含底部的端板,端板底部安装有脚轮,端板上竖直有两根升降滑动轴,升降滑动轴上标出有高度刻线,两个升降滑动轴均安装有可上下滑动的轴套,两个轴套下端分别设置有两个固定把手卡槽,上端设置有一个活动把手卡槽,活动把手卡槽同时安装在两轴套上,并可调节高度和可同步升降。

2.如权利要求1所述的X射线检测曝光升降支架,其特征在于:所述的脚轮上带有锁死刹车,脚轮分为定向脚轮和万向脚轮,其中万向脚轮为前轮,定向脚轮为后轮。

3.如权利要求1所述的X射线检测曝光升降支架,其特征在于:所述的每个轴套的固定把手卡槽和活动把手卡槽之间,均安装有锁紧把手。

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