[实用新型]完整成像无畸变精密测量X光机系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X光机，特别涉及一种完整成像无畸变精密测量X光机系统。

背景技术

X光机作为诊断和检测手段，是一门应用十分广泛的实用技术，在今天，X光机检测结构的获取和处理技术已经成为X光机发展的核心和关键，也是区分X光机类别的重要技术特征，传统的X光机采用的是面板探测器，面板探测器具有一定的局限性，探测器成像后只能看到样品的局部图像，无法将被检测的物品完整地呈现出来，这样严重影响了X光机检测的效率和测量精度，同时对有较高厚度和多层结构的物体成像会导致不同高度的图像错切畸变，离X光中心越远，畸变越严重，测量误差越大，导致误判，这是因为通常采用的X光源大都是锥束形的X光源，探测面板是矩阵面板，这使得在矩阵面板内，被测物离锥束中心越远，图像错切畸变就会越严重，测量误差越大。

发明内容

为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种改善图像错切畸变和完整成像的完整成像无畸变精密测量X光机系统。

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种完整成像无畸变精密测量X光机系统，包括探测器、载有电池测试样品的载物台、X光源，所述探测器设于载物台上方，所述X光源设于载物台下方，所述载物台的两边设有光电感应器，所述载物台为传输式载物结构，所述探测器为线扫描图像探测器，且与X光源在同一个垂直方向上，载物台将测试样品传送到光电感应器处，启动探测器开始截取电池测试样品当前截面图像。

作为本实用新型的进一步改进，所述载物台为水平传输的输送带。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的X光机将图像面板探测器改为线扫描探测器，当X光源发出的射线穿透电池测试样品后，由线扫描探测器接收高低、多层测试样品的一个截面的图像，避免了面板探测器造成的图像错切畸变问题，通过水平传输式的载物台控制测试样品移动进行被测物的完整成形，能够得到与被测物接近的原始图像，提高X光机的检测效果与测量的准确性。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图中标示：1-探测器；2-载物台；3-X光源，4-测试样品，5-光电感应器。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面将结合实施例和附图对本实用新型作进一步详述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型保护范围的限定。

图1出示了本实用新型一种完整成像无畸变精密测量X光机系统的一种实施方式，包括探测器1、载有电池测试样品4的载物台2、X光源3，所述探测器1设于载物台2上方，所述X光源3设于载物台2下方，所述载物台2的两边设有光电感应器5，所述载物台2为水平传输的输送带，所述探测器1为线扫描图像探测器，且与X光源3在同一个垂直方向上，载物台2将电池测试样品4传送到光电感应器5处，启动探测器1开始截取电池测试样品4当前截面图像，，因X光源与线扫描探测器在同一垂直方向，电池测试样品4通过时与X光源3和探测器1也在同一垂直方向，所以当前的截面图像没有任何的错切与畸变，当电池测试样品4完全通过光电感应器5后，探测器1停止取像，生成一个电池测试样品4的无任何错切与畸变的完整图像，大大改善了X光机照射的检测质量与测量的准确度。