[实用新型]新型电容处理测试设备有效
申请号: | 201320608584.1 | 申请日: | 2013-09-29 |
公开(公告)号: | CN203606460U | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 杨必祥;程传波;吴伟;胡鹏;石怡 | 申请(专利权)人: | 昆山万盛电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/18 | 分类号: | G01R31/18 |
代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 孙艳 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 新型 电容 处理 测试 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种电容处理测试设备,特别涉及一种新型电容处理测试设备。
背景技术
电容器和电阻器都是现代电子产品中常用的电子元件,被广泛应用于电路之中,其性能也就影响着各个电子产品。为了保证电容器和电阻器的质量,在出厂前还需要通过各种测试设备来对电容器和电阻器进行各个工作参数的检测,同时还需要完成切脚打标等一系列工作。
目前,对于电容器或者电阻器的测试和处理都是在不同的设备上分段完成,由于需要将料在不同的设备之间通过人工进行输送,其加工效率比较低下,特别在面对如今工厂的大批量作业时,更加会影响企业的工作效率和生产时间。
因此,亟需一种设备,来帮助企业高效快速地完成对电容器或者电阻器的测试和处理作业。
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对上述问题,提供一种可以高效快速地完成对电容器或者电阻器的测试和处理作业的新型电容处理测试设备。
为了实现上述目的,本实用新型提供了以下技术方案:新型电容处理测试设备,其包括:
机架;
送料平台,其设置于上述机架上;
沿上述送料平台依次设置并电连外部供控制设备的切尾机构、第一电容测试机构、第一耐压测试机构、绝缘电阻测试机构和激光打标机构;
其中,上述的切尾机构用于切除产品的尾脚,该产品置于上述送料平台上并由该送料平台依次输送到上述的各个机构处进行相应的处理。
优选地,上述的新型电容处理测试设备还包括设置于上述送料平台上的第二耐压测试机构和第二电容测试机构。
优选地,上述的第二耐压测试机构设置于上述第一耐压测试机构和绝缘电阻测试机构之间,上述的第二电容测试机构设置于上述激光打标机构之后。
优选地,上述的新型电容处理测试设备还包括设置于上述送料平台的起始端的上料机构。
优选地,上述的上料机构包括:
料盒,其内设置有凸轮爬行机构,上述的产品被置于该凸轮爬行机构上,通过该凸轮爬行机构的驱动向该料盒的出料端运动;
弧形滑道,其上的入口端对接上述料盒的出料端、出口端对接上述送料平台;
真空吸盘装置,其设置于上述料盒的出料端处,用于吸取上述产品并将其送入上述弧形滑道内,该真空吸盘装置通过气缸驱动在上述料盒的出料端和上述弧形滑道的入口端之间进行往复运动。
优选地,上述的上料机构还包括整料装置,其相对于上述弧形滑道的出口端而设置于上述送料平台的另一侧,用于将上述产品向该弧形滑道的出口端推进。
优选地,上述的新型电容处理测试设备还包括设置于上述送料平台的结束端的下料机构。
优选地,上述的下料机构包括:
料盒,所述料盒内设置有凸轮爬行机构,上述产品被置于该凸轮爬行机构上,通过该凸轮爬行机构的驱动向上述料盒的出料端运动;
送料翻板,其上的入料端对接上述送料平台的结束端,该送料翻板由气缸驱动在上述送料平台和料盒之间翻动。
优选地,上述的送料平台包括:
台面;
驱动气缸,其设置于该台面的起始端,用于将产品送至上述切尾机构处;
多个驱动轮,其分设于上述的各个机构处,用于将产品依次送至该各个机构处。
优选地,上述的第一电容测试机构、第一耐压测试机构和绝缘电阻测试机构处设置有拔出机构,用于拔出产品中的不良品,该拔出机构包括机械手,该机械手通过气缸驱动,该气缸电连接控制设备,该控制设备又电连接设置于上述各个机构处的感应单元,该感应单元检测到不良品上的标记后给出信号至该外部控制设备,该控制设备根据该信号控制气缸来驱动机械手运动。
采用以上技术方案的有益效果在于:本实用新型的新型电容处理测试设备主要包括送料平台以及依次设置送料平台上的切尾机构、第一电容测试机构、第一耐压测试机构、绝缘电阻测试机构和激光打标机构,产品首先被送至切尾机构进行切尾处理,然后依次通过第一电容测试机构、第一耐压测试机构和绝缘电阻测试机构进行相应的工作参数的测试,最后再进行激光打标,全过程都是通过送料平台进行送料,并且各个机构通过统一的控制设备进行控制,可以根据需要控制各个机构的处理速度、时间间隔和处理模式等参数,使得各个机构形成一个统一协作的工作形态,因此其相较于现有技术工作效率大幅提高,生产时间大幅缩短,可以高效快速地完成对电容器或者电阻器的测试和处理作业。
附图说明
图1是本实用新型的新型电容处理测试设备的结构示意图。
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