[实用新型]一种光纤宏弯损失测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光纤宏弯测试装置。

背景技术

随着通信技术的进步以及光纤技术的发展，目前G652D光纤已慢慢不能满足市场需求，并研制开发出G657A1及G657A2型光纤。这两类光纤的主要特点是宏弯损失小于G652D型光纤，可用于更加苛刻的环境，因此对于此类光纤的生产厂家，快速，准确测试出光纤的宏弯损失是十分有必要的。

对于需要绕多圈测试宏弯的项目，现有的方法在绕纤过程中，光纤容易出现光纤绕圈位置不均匀，光纤压线，受力不均的情况，导致光纤测试结果不准且重复性较差。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是现有的光纤宏弯损失测量容易出现光纤绕圈位置不均匀，光纤压线，受力不均的情况，导致光纤测试结果不准且重复性较差。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种光纤宏弯损失测试装置，包括底座、连接轴、绕纤棒，连接轴垂直底座设置，并与底座固定连接，绕纤棒套接在连接轴外侧，并旋转连接连接轴；所述绕纤棒外壁上设有螺纹部，所述螺纹部为一段连续的螺纹卡槽，用于卡接待测试的光纤。

使用时，左手轻压住光纤在槽内，右手转动把柄球，光纤便会自动排列到槽内，光纤整齐排在槽内，不会产生压线，且绕纤张力相对稳定，绕纤时不会让光纤产生扭力；绕圈圈数恒定不用计数，绕纤方式简单速度较快。

为便于操作，所述绕纤棒的顶部还连接有把柄球，把柄球与绕纤棒固接。设置把柄球，使操作者的用力有着力点，便于推动绕纤棒转动。

作为本实用新型的一种改进，所述绕纤棒的外壁上还设有吸铁石。通过吸铁石吸住外设的夹具，保证测量的稳定性。

本实用新型的优点是：结构简单、光纤整齐排在螺纹卡槽内，不会压线，绕纤张力稳定；绕纤时不会让光纤产生扭力；绕圈圈数恒定不用计数；操作简单速度较快。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型螺纹部的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1至图2所示，本实用新型包括底座4、连接轴5、绕纤棒1，连接轴5垂直底座4设置，其底部通过螺栓固定在底座上，绕纤棒1套接在连接轴5外侧，其上下端通过轴承旋转连接连接轴5；所述绕纤棒1外壁上设有螺纹部3，所述螺纹部3为一段连续的螺纹卡槽，用于卡接待测试的光纤，所述绕纤棒1的顶部设有半圆形的凹槽，把柄球2下部与凹槽契合并固定在凹槽内，所述绕纤棒1的外壁上还设有吸铁石6。

制作时，绕纤棒1的直径可以为10mm，15mm，20mm，30mm和50mm，在此绕纤棒1上开凿100-150um深的螺纹，螺纹之间的间距为1.5mm-3mm，螺纹圈数根据需要可为10圈，15圈，20圈，30圈。

使用时，用胶带把测试光纤一端固定在绕纤棒1上，然后，把测试光纤拉直后，左手将光纤轻按入螺纹部3的卡槽内，右手按着把柄球2旋转绕纤棒1，使光纤按照所开的槽，缠绕在绕纤棒1上。绕纤的速度在30秒绕10圈左右；绕完规定的圈数后，固定光纤的另一端，并把光纤放入连接测试设备的夹具中，通过吸铁石6吸主夹具，并处理另外一端，当二端都放入夹具后开始测试。

本实用新型的绕纤方式主要有以下几点优点：

1.      光纤整齐排在槽内，不会产生压线；

2.      绕纤张力稳定；

3.      绕纤时不会让光纤产生扭力；

4.      绕圈圈数恒定不用计数；

5.    绕纤方式简单速度较快。