[实用新型]一种新型挠性电路板缺陷检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路板的视觉检测技术，具体来说是一种电路板缺陷检测的装置。

背景技术

印刷电路板是电子产品中实现电气连接的主要组件，但由于生产过程中各种可能的误差存在，电路板上存在如短路、开路、鼠咬、残铜、划痕等各种各样的显性缺陷。这些缺陷都有可能会严重影响到产品的性能及稳定性，所以电路板的缺陷检测环节极为重要。

传统的人工检测方式主要是借助高倍数显微镜，利用人自身的辨识能力和分析能力进行缺陷检测，但是这种方法存在漏检率高、速度慢、成本高等特点，在精确性、高效性、稳定性方面，传统的人工检测方法已经跟不上现代印刷电路板生产工艺的步伐。

面对当今印刷电路板的线宽线距越来越小，图像密度越来越高的特点，自动化的缺陷检测设备越来越受到了业界的关注。自动光学检查系统(AOI:Automatic Optical Inspection)作为一种非接触式的智能检测手段，其基本的工作原理如下：首先，摄像头对待测电路板进行局部放大拍摄获取图像，得到多张局部图；然后，对获取到的多张局部图像进行拼接融合处理得到一张完整图；最后，利用模式识别技术把一张完整图与存储在计算机内的标准图比较，把缺陷所在的位置、特征、数量等信息显示出来，以便进行修复。

AOI检测虽然可以取代传统人工检测进行长时间、高精度的电路板缺陷检测，但是由于待测电路板与标准电路板（标准图）之间不存在严格意义上的完全相同，而计算机现阶段不具备人类的辨识和容错能力，所以AOI在实际生产应用中误报率比较高。同时，将一张完整图与标准图全图比较找出显性缺陷，耗时长。

实用新型内容

针对现有技术中存在的技术问题，本实用新型的目的是：提供一种高效率、有效降低误报率的一种新型挠性电路板缺陷检测装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种新型挠性电路板缺陷检测装置，包括：控制系统、检测平台和输送待测电路板的传送带；它还包括XY轴运动平台和两个沿着X轴方向设置的摄像头；两块待测电路板依次平放在沿着X轴方向设置的传送带上，传送带安装在检测平台上；两个摄像头通过XY轴运动平台正对待测电路板的上平面平移，一个摄像头对应一块电路板。

两个摄像头之间通过距离可调的连接杆连接。

XY轴运动平台包括X轴导轨和Y轴导轨；连接杆通过Y轴导轨在Y轴方向上平移，Y轴导轨通过X轴导轨在X轴方向上平移；X轴方向与Y轴方向相互垂直。

X轴导轨和Y轴导轨通过电机驱动。

一种新型挠性电路板缺陷检测方法，包括如下步骤：a.两个摄像头同时对两块待测电路板的相同区域采集图像，得到局部图；通过比较两块待测电路板的相同区域的局部图间的异同，生成缺陷显著图、位置特征显著图和对象特征显著图；b．缺陷显著图记录潜在显性缺陷的位置；通过位置特征显著图和对象特征显著图生成配准用的特征，把每块待测电路板对应的局部图拼接成完整图，得到对应两块待测电路板的两张完整图；c.在完整图中，潜在显性缺陷处逐一与标准图比较，找出显性缺陷，剔除误判的显性缺陷。

步骤b得到完整图后，将完整图整体和标准图进行比对，找出隐性缺陷。

显性缺陷包括：短路、断路、空洞、残铜和划痕。

隐性缺陷包括：线宽误差和线距误差。

步骤a中，根据待测电路板的大小调整两摄像头之间的距离。

本实用新型的工作过程如下：两个摄像头同时对两块待测电路板的相同区域采集图像，得到多张局部图；通过横向比较两块待测电路板之间相同区域局部图之间的异同，生成缺陷显著图、位置特征显著图及对象特征显著图。缺陷显著图记录潜在的显性缺陷位置，即标记潜在显性缺陷的位置。利用位置特征显著图和对象特征显著图生成配准用的特征；根据得到的配准用特征，验证它们对平移、缩放、旋转等仿射变换的不变性；确认一个特别显著的特征后，就进行图像配准，估算映射关系的参数，并进行图像的重采样和变换；通过变换后图像反馈，修正调整配准参数；完全变换后的差图像反馈回去对缺陷显著图部分进行修正，增强真正的缺陷，抵消某些误报的影响。