[实用新型]热流型差示扫描量热仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于材料热分析的差示扫描量热仪，具体的是热流型差示扫描量热仪。

背景技术

差示扫描量热法（differential scanning calorimeter简称DSC）在材料热分析领域是一种常用的分析方法，其基本过程在于对参照物和测试样进行程序控温，并且记录测试样与参照物在此过程中吸收(或放出)热量的差值，再绘制出这个热量差值与温度或时间的关系曲线，即DSC曲线。通过分析DSC曲线，不仅可以了解到测试样在升降温过程中是否出现吸热或者放热现象（例如晶体熔化时是吸热过程）,而且可以定量地测定出该过程中测试样发生吸放热时的温度和吸放热量的多少。

采用DSC的方法对材料进行热分析的仪器称为差示扫描量热仪（简称DSC测试仪），按照其工作原理不同，可以分为功率补偿型和热流型两种。

其中热流型DSC测试仪的基本原理是，对测试样和参照物同时加热，当测试样发生吸热或放热过程时，就会与参照物间形成温度差；仪器记录下这个温度差，并且将这个温度差通过一个装置系数(装置系数通过测量如单晶三氧化二铝等高纯度基准物质的热容量计算得到)换算为热量差，进而绘制出DSC曲线。

DSC测试仪的灵敏度和温度稳定性会影响DSC曲线的精度，进而影响到后期材料分析的准确性，所以具有更高分析精度的DSC测试仪仪器是业界追求的方向之一。

传统的热流型DSC测试仪，是采用普通热电偶作为温度传感器，并且采用电热炉进行加热，因此样品测试时，其测量精度比较低；另一方面，由于传统的热流型DSC仪器不具备使测量环境的温度降低的功能，所以无法进行样品降温过程的DSC测量；或者仅仅依靠诸如液氮或冰柜对测量环境温度进行影响，却无法实现降温过程的精准控制，导致无法得到测量样品准确的降温过程的DSC曲线。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种热流型差示扫描量热仪，相对于传统的热流型DSC测试仪，可以进行精度更高的DSC测量。

本实用新型采用的技术方案是：

热流型差示扫描量热仪，包括温度监控系统、数据计算记录系统和样品仓，所述样品仓底部设置有一级铜台，所述一级铜台上设置有至少一层形状为桶形的一级铜盖，所述一级铜盖倒扣在一级铜台上，在两者之间的内部空间形成封闭的样品空间；所述样品空间内设置有第一热电偶和第二热电偶，所述第一热电偶和第二热电偶分别与数据计算记录系统相连，且均为半导体热电偶；在所述一级铜盖侧面外围包裹有与温度监控系统相连的主热源；在所述第一热电偶和第二热电偶附近设置有第一温度计，在所述主热源上设置有第二温度计，所述第一温度计和第二温度计分别与温度监控系统相连，且均为铂电阻温度计。

进一步的，所述一级铜台上面设置有与温度监控系统相连的副热源，所述副热源上面设置有二级铜台，所述第一热电偶和第二热电偶设置在二级铜台的上表面，所述副热源是半导体热电偶，在所述副热源附近设置有第三温度计，所述第三温度计是铂电阻温度计，且与温度监控系统相连。

进一步的，所述样品空间内还设置有至少一层二级铜盖，所述二级铜盖形状为桶形，倒扣在二级铜台上，且罩住所述第一热电偶和第二热电偶。

进一步的，所述一级铜台和二级铜台上设置有阶梯型缺口；所述一级铜盖的尺寸与一级铜台上的阶梯型缺口尺寸相适应，且倒扣设置在阶梯型缺口上；所述二级铜盖上的尺寸与二级铜台上的阶梯型缺口相适应，且倒扣设置在阶梯型缺口上。

进一步的，所述一级铜台和二级铜台的截面均为圆形，其上的阶梯型缺口均为环形；所述一级铜盖和二级铜盖形状为圆桶形。

进一步的，所述主热源是电热膜。

本实用新型的有益效果是：采用本实用新型的DSC测试仪，相对于传统的热流型DSC测试仪，可以进行更高精度的DSC测量，绘制出分辨率更高的DSC曲线，并且可以实现降温过程的DSC测量。

附图说明

图1是本实用新型的热流型差示扫描量热仪的样品仓的主视示意图，图中温度监控系统和数据计算记录系统具体结构属于现有技术没有示出；

图中部件附图标记为：1-一级铜台、11-二级铜台、21-第一热电偶、22-第二热电偶、31-第一温度计、32-第二温度计、33-第三温度计、4-主热源、41-副热源、51-一级铜盖、52二级铜盖、6-样品空间、7-数据计算记录系统、8-温度监控系统。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明：