[实用新型]检测台及其光学检测装置有效

专利信息
申请号: 201320552968.6 申请日: 2013-09-06
公开(公告)号: CN203551476U 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 汤棛名;蔡宗霖 申请(专利权)人: 联策科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01B11/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 徐雯琼;张妍
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 及其 光学 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测台及其光学检测装置,特别具体涉及一种具有多沟槽设计且具有透光性质的检测台及其光学检测装置。 

背景技术

现今的自动光学检测装置(AOI)大多是利用一检测台、一光源模块及一摄像模块。检测台先利用一吸附沟槽将待测物吸附放置于检测台上,再利用摄像模块配合光源模块,以对待测物进行影像撷取,随后再依据撷取的影像进行外观瑕疵或尺寸量测等检测项目。现今常见检测台面大致可分为真空台面形式及压板玻璃形式。真空台面式,其台面为非透光材质,且台面设有若干个吸附孔,借助这些吸附孔可使待测物平贴于检测台面,且由于其非透光的特性,所以光源模块需设置于检测台面之上,也可称作上光源式。压板玻璃形式,其台面为透光材质(例如玻璃),利用另一玻璃板压设于待测物之上,使得待测物平贴于检测台,并且借助台面透光的特性,光源模块可以设置与检测台下方,进而可使光源穿透待测物,以利于检测人员进行检测。 

然而,在实际应用中,若使用下光源式检测台时,因为须利用另一玻璃压设于待测物,所以在待测物的种类选择上会有所限制,为此会对使用者造成不便与困扰。换言之,若使用者欲使用下光源式检测台,则待测物的表面必须是干燥表面,不可有任何未干燥或未烘干的物质,因此造成实际应用上的不便。有鉴于此,如何设计一种理想的检测台及其光学检测装置,使待测物能更平贴于检测台,且同时可以配合使用下光源,已成为现今产业极需解决的问题。所以,本实用新型设计一种检测台及其光学检测装置,以针对现有技术的缺失加以改善,进而增进产业上的实施利用。 

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有多沟槽设计且具有透光性质的检测台及其光学检测装置,以解决熟知的下光源检测台面无法检测待测物表面具有任何未干燥或未烘干物质的问题。 

一种检测台,为一透光结构,应用于光学检测装置,且具有放置平面以提供待测物放置,其特点是,还包含:第一沟槽,围绕设置于上述的放置平面的外围,且连接至少一第一气孔,上述的至少一第一气孔连接抽气模块;第二沟槽,围绕设置于上述的放置平面,且位于上述的第一沟槽的内侧,上述的第二沟槽连接至少一第二气孔,上述的至少一第二气孔连接上述的抽气模块;其中,当上述的抽气模块进行作动时,通过上述的第一沟槽及上述的第二沟槽,将上述的待测物与上述的检测台间的空气抽出,进而使上述的待测物平贴于上述的放置平面。 

上述的第一沟槽及其所围绕的区域是对应上述的待测物的大小。 

上述的至少一第二气孔设置于上述的第一沟槽与上述的第二沟槽之间。 

上述的第一沟槽及上述的第二沟槽的围绕方式是对应于上述的待测物的外形。 

一种光学检测装置,其特点是,其包含:检测台,为一透光结构,其具有放置平面以提供待测物放置,其包含:第一沟槽,围绕设置于上述的放置平面的外围,且连接至少一第一气孔;第二沟槽,围绕设置于上述的放置平面,且位于上述的第一沟槽的内侧,上述的第二沟槽连接至少一第二气孔;摄像模块,是对应上述的放置平面设置于上述的检测台的一侧,以对上述的待测物进行检测;至少一光源模块,为上述的摄像模块提供检测上述的待测物时所需的光源;抽气模块,用于连接上述的至少一第一气孔及上述的至少一第二气孔;当上述的抽气模块动作时,通过上述的第一沟槽及上述的第二沟槽,而将上述的待测物与上述的检测台间的空气抽出,进而使上述的待测物平贴于上述的放置平面,以使上述的摄像模块进行检测动作。 

上述的至少一光源模块设置于上述的检测台的另一侧,且相对于上述的放置平面,并利用上述的检测台的上述的透光结构,以使上述的摄像模块利用上述的至少一光源模块所提供的光源,对上述的待测物进行检测。 

其中上述的第一沟槽及其所围绕的区域是对应上述的待测物的大小。 

其中上述的至少一第二气孔设置于上述的第一沟槽及上述的第二沟槽之间。 

其中上述的第一沟槽及上述的第二沟槽的围绕方式是对应于上述的待测物的外形。 

综上所述,本实用新型所提供的检测台及其光学检测装置,其提供下列的优点: 

本实用新型所提供的检测台及其光学检测装置,利用透光的检测台,利用透光之检测台,配合设置若干个吸附沟槽,以使待测物平贴于检测台,同时可以使用下光源的照射方式检测待测物,进而可改善现有技术中无法同时利用真空吸附方式及下光源方式进行检测的问题。

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