[实用新型]液晶盒检测工具及液晶盒检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种应用于液晶面板制造工艺中，对显示面板进行内部不良检测时所采用的液晶盒检测工具及液晶盒检测装置。

背景技术

液晶显示器是目前常用的平板显示器，其中TFT-LCD(Thin Film-Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)是液晶显示器中的主流产品。

液晶显示器的生产流程通常包括前段的阵列（Array）流程、中段的成盒（Cell）流程以及后段的模组（Module）流程。其中，中段的成盒（Cell）流程是以前段的阵列（Array）流程中制作的TFT阵列基板与彩膜基板（彩色滤光片）通过成盒工艺组装到一起，两片基板之间含有液晶分子，四周采用密封材料封住，从而形成一液晶盒（液晶屏）。在后段的模组（Module）流程中，该液晶盒与其他组件如偏光片、背光源、电路板、外框架、行列驱动器等组装成一体而获得一液晶面板。由于液晶盒本身不发光，因此需要利用背光源作为其光源，而从背光模组出射的光线进入液晶盒时必须为偏振光，因而通常需要在液晶盒的两侧分别贴上一偏光片（Polarizer）。偏光片贴覆通常可以作为模组流程中的第一道工序。

在TFT-LCD制造过程中，需要对液晶显示器的显示面板内部不良进行检测。现有的显示面板内部不良检测装置主要包括放大镜和光源部件，图1所示为现有的显示面板内部不良检测装置对显示面板内部不良进行检测的示意图。其是在液晶显示器生产线的后段的模组流程，将对盒后的液晶盒10两侧贴覆好偏光片20，并将获得的贴好偏光片的模组状态的产品送至实验室，由实验室内提供的光源部件为该模组状态的产品提供光源30，再通过放大镜40观察该模组状态的产品内部，实现对显示面板内部不良的检测。

采用上述显示面板内部不良检测装置主要存在以下几点问题：需要生产线在液晶盒进入后段的模组流程贴覆好偏光片之后才能检测，无法及时发现显示面板内部不良；检测需要光源由实验室的光源设备单独提供，检测地点限制在实验室内，无法将检测装置灵活携带直接进入生产线进行及时检测；此外，现有的显示面板内部不良检测装置在对大尺寸的显示面板进行检测时，操作不便。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于提供一种液晶盒检测工具及液晶盒检测装置，能够实现对未贴覆偏光片的液晶盒的内部不良进行检测，且能够直接带入生产线进行及时检测，从而及时发现显示面板内部不良。

本实用新型所提供的技术方案如下：

一种液晶盒检测工具，所述液晶盒检测工具包括：

分别设置于液晶盒的两侧的至少两个偏光片；

用于将至少两个偏光片分别固定于液晶盒的两侧的固定架，至少两个偏光片设置于所述固定架上；以及，

用于提供检测光线的光源部件，所述光源部件设置于所述固定架上，且所述光源部件射出的光线经过至少两个偏光中的一个偏光片形成偏振光入射至待检测的液晶盒。

至少两个偏光片至少两个偏光片进一步的，所述固定架包括：设置于液晶盒的第一侧的第一固定架以及设置于液晶盒的与所述第一侧相对的第二侧的第二固定架；

至少两个偏光片包括：设置于所述第一固定架上的第一偏光片以及设置于所述第二固定架上的且能够与所述第一偏光片相对设置的第二偏光片；

其中，所述光源部件设置于所述第二固定架上，且所述光源部件位于所述第二偏光片的远离所述第一偏光片的一侧。

进一步的，所述第一固定架包括具有中空腔的第一圈状框架结构，所述第一偏光片以能够移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第一圈状框架结构上；

所述第二固定架包括具有中空腔的第二圈状框架结构，所述第一圈状框架结构的中空腔位置与所述第二圈状框架结构的中空腔位置相对应，所述第二偏光片以能够移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第二圈状框架结构上。

进一步的，所述第一圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第一偏光片，其中每一所述第一偏光片的一端活动连接在所述第一圈状框架结构上，且能够绕其与所述第一圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔；

所述第二圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第二偏光片，每一所述第二偏光片的一端活动连接在所述第二圈状框架结构上，且能够绕其与所述第二圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔。