[实用新型]饱和磁化强度的测量装置有效
申请号: | 201320362004.5 | 申请日: | 2013-06-24 |
公开(公告)号: | CN203299362U | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 雷作胜;史永超;许春龙;韦如军;阳小华;金效兴 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 饱和磁化强度 测量 装置 | ||
1. 一种饱和磁化强度的测量装置,包括磁场发生装置和磁力测量装置,所述磁力测量装置为测力计(1),所述测力计(1)的测力端和待测铁磁性材料样品(3)之间通过悬线(2)连接,其特征在于:所述磁场发生装置由两匝麦克斯韦线圈(4)和两匝亥姆霍兹线圈(5)组成双对磁场线圈,任意两匝线圈之间彼此平行且共轴设置,产生均匀梯度的磁场,将待测铁磁性材料样品(3)放置于所述磁场发生装置的双对磁场线圈的中心区域。
2.根据权利要求1所述的饱和磁化强度的测量装置,其特征在于:两匝亥姆霍兹线圈(5)为两个直径相同的载流圆线圈,两匝所述麦克斯韦线圈(4)也为两个直径相同的载流圆线圈,两匝所述麦克斯韦线圈(4)位于同一柱面的不同高度处,并分别与两匝亥姆霍兹线圈(5)的高度位置相对应。
3.根据权利要求2所述的饱和磁化强度的测量装置,其特征在于:所述亥姆霍兹线圈(5)的直径大于所述麦克斯韦线圈(4),即所述麦克斯韦线圈(4)非接触地套在所述亥姆霍兹线圈(5)内部。
4.根据权利要求2所述的饱和磁化强度的测量装置,其特征在于:所述亥姆霍兹线圈(5)的直径小于所述麦克斯韦线圈(4),即所述麦克斯韦线圈(4)非接触地套在所述亥姆霍兹线圈(5)外部。
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