[实用新型]一种信号线的检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别是指一种阵列基板的信号线的检测设备。

背景技术

如图1所示，现有技术中，用于TFT-LCD（薄膜晶体管液晶显示器）中用于阵列基板的栅金属线（Gate Line）和数据金属线（Data Line）的开路/短路（Open/Short）的检测设备，通过扫描装置11，12，13和14(每两个一组)安装在同一个安装架（Gantry，具体可以是金属平板）16上沿着垂直于栅/数据金属线排布的方向扫描，进而通过一组中的一个扫描装置给阵列基板上的被检测栅/数据金属线传送信号，另一个扫描装置接收信号，同时对多个阵列基板进行扫描测试，来判断被检测的阵列基板上的栅金属线或数据金属线是否存在开路/短路。

然而，现有技术中，图1所示的检测装置，是采用一种旋转的基座的结构来实现阵列基板的检测，即通过驱动马达15带动基座17旋转，并通过承载阵列基板的基座17的旋转来带动整个阵列基板进行旋转，其中，驱动马达15与基座17为一体，具体的，利用上述检测装置在对阵列基板进行检测时：

1)在被测试阵列基板的待测金属线排布方向与检测设备的扫描装置的扫描方向垂直时，如图1中所示，若阵列基板的待测金属线的排布方向沿着y方向时，两组扫描装置（扫描装置11，12为一组，扫描装置13，14为一组）只能沿着安装架16进行移动，在安装架16上从基座17的一侧向另一侧同时移动，进行测试扫描；

2)在被测试阵列基板的待测金属线排布方向与检测设备的扫描装置的扫描方向不垂直时，如图1中所示，若阵列基板的待测金属线的排布方向沿着x方向时，通过基座17的旋转，使基座17上承载的阵列基板的待测金属线的排布方向与检测设备的扫描装置的扫描方向垂直，进而两组扫描装置在一个安装架16上从基座17的一侧向另一侧同时移动，进行测试扫描；

然而，上述检测设备，由于基座17长时间旋转后，可能会导致基座17的平坦度(Flatness)无法满足设备运行要求的问题，影响阵列基板的检测。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种信号线的检测设备，可以缩短每张阵列基板的测试时间，解决了旋转基座长时间工作后导致的基座平坦度(Flatness)无法满足设备运行要求的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供一种信号线的检测设备，包括：基座；设置于所述基座上的至少2个安装架；在每一个安装架上安装有2个扫描装置，所述扫描装置与所述安装架旋转移动连接。

其中，所述基座上还设置有用于驱动所述扫描装置旋转的马达。

其中，所述扫描装置与所述安装架通过旋转机构与所述安装架旋转移动连接。

其中，所述旋转机构包括：

与所述安装架移动连接的第一连接件；

与所述扫描装置固定连接的第二连接件；

与所述第一连接件和所述第二连接件旋转连接的旋转轴，且所述旋转轴与所述马达连接。

其中，所述扫描装置为平板结构，包括：相邻并排设置的信号发射器和信号接收器，所述信号发射器和所述信号接收器分别为至少一个。

其中，所述基座为用于承载阵列基板的平面基座。

其中，所述安装架为长条形的金属平板。

其中，所述安装架与所述基座移动连接。

其中，所述安装架通过所述基座Y方向上的滑轨与所述基座移动连接或者通过驱动马达的驱动沿所述基座Y方向移动。

其中，所述至少2个安装架平行设置。

本实用新型的上述技术方案的有益效果如下：

上述方案中，通过在基座上设置至少2个安装架；在每一个安装架上安装有2个扫描装置，所述扫描装置与所述安装架旋转移动连接，在扫描装置的扫描方向与阵列基板的待测金属线的排布方向不垂直时，只需要控制扫描装置的旋转以及扫描装置在安装架上的移动，就可完成待测金属线的信号测试，从而避免之前在阵列基板的待测金属线的排布方向与检测设备的扫描装置的扫描方向不垂直时，每张阵列基板在进入检测设备后都需要进行基座的旋转，造成旋转基座长时间工作后导致的基座平坦度无法满足设备运行要求的问题，且在阵列基板的待测金属线的排布方向与检测设备的扫描装置的扫描方向不垂直时，本实用新型的检测设备只需要扫描装置旋转一次，就可满足检测需求，从而极大的缩短了每张阵列基板的测试时间。

附图说明

图1为现有技术中阵列基板的栅金属线/数据金属线的信号检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型的阵列基板的栅金属线/数据金属线的信号检测装置的结构示意图；

图3为图2中结构分别按照图2中所示方向旋转后的结构示意图。