[实用新型]光模块消光比调试盒有效

专利信息
申请号: 201320285985.8 申请日: 2013-05-23
公开(公告)号: CN203275525U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 舒志强;田明雄 申请(专利权)人: 武汉元创光电科技有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430223 湖北省武汉市江夏区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 模块 调试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种光模块设备,尤其是一种光模块消光比调试盒。

背景技术

目前用来调试光模块消光比电阻是用贴片式微调电位器来调试,因为每个激光器的背光电流都不统一,所用电阻也就不一样,就用贴片式微调电位器代替电阻,但贴片式微调电位器体积要比常用电阻大,导致PCB排版麻烦,且成本比电阻相应高出很多,一旦调试定型后无法重新调试,只能更换一个新的用贴片式微调电位器,成本较高且操作麻烦。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种效率高、成本低、操作简单、读值简单的光模块消光比调试盒。

实现本实用新型目的的光模块消光比调试盒,包括调试电路,所述调试电路包括串联在一起的保护电阻、可调电位器和三向开关;所述调试电路的两端通过三向开关分别连接在万用表或消光比电阻两端。

所述保护电阻的阻值为500欧姆。

本实用新型的有益效果如下:本实用新型的光模块消光比调试盒,将原来贴在PCB上的微型可调电位器,通过常用电阻来代替,用大一点的可调电位器来调试电阻阻值,具有反应速度快、调试效率高、体积小、制造成本低廉的优点;此外,由于电路简化,设备的可靠性大大提高,工作效率进一步提高,可节省一定成本。

附图说明

图1为本实用新型的光模块消光比调试盒的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型的实施例如下:如图1所示,本实用新型的光模块消光比调试盒,包括调试电路,所述调试电路包括串联在一起的保护电阻R1、可调电位器R2和三向开关S1;所述调试电路的两端通过三向开关S1分别连接在万用表或消光比电阻两端。

所述保护电阻R1的阻值为500欧姆。

本实用新型的光模块消光比调试盒的工作原理如下:由较大一些的可调电位器连接到PCB消光比电阻两端,来调试光模块的消光比到合适值(通过眼图仪显示),同时用一万用表也连接到可调电位器两端,用以读出消光比电阻的阻值,其间是用三向开关来选择万用表读消光比电阻阻值和眼图仪显示眼图消光比值,然后由相关人员把相应阻值的电阻焊到PCB消光比电阻的位置,另外由于可调电位器是由0到一定的值,以防阻值为0烧坏光模块器件,加入一个500欧姆的保护电阻。

上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述,并非对本实用新型的范围进行限定,在不脱离本实用新型设计精神前提下,本领域普通工程技术人员对本实用新型技术方案做出的各种变形和改进,均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。

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